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產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 能源,冶金,航天,汽車,綜合 |
ZL-IIc試塊/ZL-IIc探傷標準試塊
ZL-IIc探傷試塊|啟航ZL-IIc縱波靈敏度試塊|啟航檢測科技(上海)有限公司優惠價供應
縱波靈敏度試塊依據標準中技術2要求而設計,該類試塊主要適用于標準技術2中縱波檢測以平底孔為基準反射體,制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據檢測范圍及平底孔直徑的不同共設計兩個系列七塊試塊,ZL-I系列為<40mm縱波靈敏度試塊,ZL-II系列為≥40mm縱波靈敏度試塊。縱波靈敏度試塊設計內容見下表。
國家標準GB/T 11345—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測 技術、檢測等級和評定》、GB/T 29711—2013 《焊縫無損檢測 超聲檢測 焊縫中的顯示特征》、GB/T 29712—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測 驗收等 級》于2013年9月18日頒布、2014年6月1日實施。該系列標準為推薦性標準,分別對應焊縫超聲檢測的技術方法 和檢測等級、顯示特征判定以及焊縫質量驗收三個方面,代替GB/T 11345—1989標準。標準中明確給出設定參 考靈敏度的要求,但沒有給出標準試塊圖紙,因此各行業需根據使用不同,依據標準設計了多種試塊,為規范 試塊設計,汲取各行業設計之優點最終設計出整套標準試塊。本套試塊為產品,本手冊僅供參考學習,請 勿用于任何商業活動。
依據標準內容要求試塊共分五大類,共計28塊。(φ3mm橫孔靈敏度試塊、縱波靈敏度試塊、橫波靈敏度 試塊、槽型基準靈敏度試塊、串列式試塊。)
縱波靈敏度試塊
縱波靈敏度試塊依據標準中技術2要求而設計,該類試塊主要適用于標準技術2中縱波檢測以平底孔為基準反射體,制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據檢測范圍及平底孔直徑的不同共設計兩個系列七塊試塊,ZL-I系列為<40mm縱波靈敏度試塊,ZL-II系列為≥40mm縱波靈敏度試塊。縱波靈敏度試塊設計內容見下表。
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊,分別適合8-25、8-100和 8-150mm的板厚,其標準反射體為40mm的橫通孔。主要用途繪制距離-波幅曲線,調整探測范圍和掃查速度。測定斜探頭的K值。
RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊,分別適合8-25、8-100和 8-150mm的板厚,其標準反射體為φ3×40mm的橫通孔。主要用途繪制距離-波幅曲線,調整探測范圍和掃查速度。測定斜探頭的K值。
RB-1試塊,適用于檢測工件厚度為≥8mm~25mm的焊接接頭。橫波檢驗時直射波檢測所對應的標準孔深度分別為5mm、10mm、15mm、20mm、一次反射波檢測所對應的標準孔深度分別為30mm、35mm、40mm、45mm、二次反射波檢測所對應的標準孔深度分別為55mm、60mm、65mm、70mm。縱波檢測時所對應的標準孔深度為5mm、10mm、15mm、20mm、50mm
RB-2試塊,適用于檢測工件厚度為≥8mm~100mm的焊接接頭。橫波檢驗時直射波檢測所對應的標準孔深度分別為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、70mm、80mm、90mm、100mm,一次反射波檢測所對應的標準孔深度分別為120mm、130mm、140mm、150mm、160mm、170mm、180mm、190mm、200mm、210mm。縱波檢測時所對應的標準孔深度為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm。
頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號 | 焦距 | 插座 | |
P型 | C型 | ||||
1.25 | 20 | 1.25P20 F5 | 1.25C20 F5 | 5 | Q6(雙) |
1.25P20 F15 | 1.25C20 F15 | 15 | |||
2.5 | 10 | 2.5P10 F5 | 2.5C10 F5 | 5 | |
2.5P10 F8 | 2.5C10 F8 | 8 | |||
2.5P10 F10 | 2.5C10 F10 | 10 | |||
14 | 2.5P14 F5 | 2.5C14 F5 | 5 | ||
2.5P14 F10 | 2.5C14 F10 | 10 | |||
2.5P14 F15 | 2.5C14 F15 | 15 | |||
2.5P14 F20 | 2.5C14 F20 | 20 | |||
2.5P14 F30 | 2.5C14 F30 | 30 | |||
20 | 2.5P20 F5 | 2.5C20 F5 | 5 | ||
2.5P20 F10 | 2.5C20 F10 | 10 | |||
2.5P20 F15 | 2.5C20 F15 | 15 | |||
2.5P20 F20 | 2.5C20 F20 | 20 | |||
2.5P20 F30 | 2.5C20 F30 | 30 | |||
5 | 6 | 5P6 F5 | 5C6 F5 | 5 | |
5P6 F8 | 5C6 F8 | 8 | |||
8 | 5P8 F5 | 5C8 F5 | 5 | ||
5P8 F8 | 5C8 F8 | 8 | |||
5P8 F10 | 5C8 F10 | 10 | |||
10 | 5P10 F5 | 5C10 F5 | 5 | ||
5P10 F8 | 5C10 F8 | 8 | |||
5P10 F10 | 5C10 F10 | 10 | |||
14 | 5P14 F5 | 5C14 F5 | 5 | ||
5P14 F10 | 5C14 F10 | 10 | |||
5P14 F15 | 5C14 F15 | 15 | |||
5P14 F20 | 5C14 F20 | 20 | |||
5P14 F30 | 5C14 F30 | 30 | |||
20 | 5P20 F5 | 5C20 F5 | 5 | ||
5P20 F10 | 5C20 F10 | 10 | |||
5P20 F15 | 5C20 F15 | 15 | |||
5P20 F20 | 5C20 F20 | 20 | |||
5P20 F30 | 5C20 F30 | 30 |
頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號 | 插座 | |
P型 | C型 | |||
2.5 | 8*12 | 2.5P8*12 K0.8 | 2.5C8*12 K0.8 | Q9 |
2.5P8*12 K1 | 2.5C8*12 K1 | |||
2.5P8*12 K1.5 | 2.5C8*12 K1.5 | |||
2.5P8*12 K2 | 2.5C8*12 K2 | |||
2.5P8*12 K2.5 | 2.5C8*12 K2.5 | |||
2.5P8*12 K3 | 2.5C8*12 K3 | |||
9*9 | 2.5P9*9 K0.8 | 2.5C9*9 K0.8 | ||
2.5P9*9 K1 | 2.5C9*9 K1 | |||
2.5P9*9 K1.5 | 2.5C9*9 K1.5 | |||
2.5P9*9 K2 | 2.5C9*9 K2 | |||
2.5P9*9 K2.5 | 2.5C9*9 K2.5 | |||
2.5P9*9 K3 | 2.5C9*9 K3 | |||
5 | 8*12 | 5P8*12 K0.8 | 5C8*12 K0.8 | |
5P8*12 K1 | 5C8*12 K1 | |||
5P8*12 K1.5 | 5C8*12 K1.5 | |||
5P8*12 K2 | 5C8*12 K2 | |||
5P8*12 K2.5 | 5C8*12 K2.5 | |||
5P8*12 K3 | 5C8*12 K3 | |||
9*9 | 5P9*9 K0.8 | 5C9*9 K0.8 | ||
5P9*9 K1 | 5C9*9 K1 | |||
5P9*9 K1.5 | 5C9*9 K1.5 | |||
5P9*9 K2 | 5C9*9 K2 | |||
5P9*9 K2.5 | 5C9*9 K2.5 | |||
5P9*9 K3 | 5C9*9 K3 |
頻率(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 型號 | 插座 | |
P型 | C型 | |||
2.5 | 6*8 | 2.5P6*8 K0.8 | 2.5C6*8 K0.8 | Q9 |
2.5P6*8 K1 | 2.5C6*8 K1 | |||
2.5P6*8 K1.5 | 2.5C6*8 K1.5 | |||
2.5P6*8 K2 | 2.5C6*8 K2 | |||
5 | 6*6 | 5P6*6 K0.8 | 5C6*6 K0.8 | Q6 |
5P6*6 K1 | 5C6*6 K1 | |||
5P6*6 K1.5 | 5C6*6 K1.5 | |||
5P6*6 K2 | 5C6*6 K2 | |||
5P6*6 K2.5 | 5C6*6 K2.5 | |||
5P6*6 K3 | 5C6*6 K3 | |||
6*8 | 5P6*8 K0.8 | 5C6*8 K0.8 | Q9 | |
5P6*8 K1 | 5C6*8 K1 | |||
5P6*8 K1.5 | 5C6*8 K1.5 | |||
5P6*8 K2 | 5C6*8 K2 | |||
5P6*8 K2.5 | 5C6*8 K2.5 | |||
5P6*8 K3 | 5C6*8 K3 |
接收客戶定制各種規格的雙晶斜探頭,定制時請告知頻率、晶片大小、折射角或 K 值、焦點深度、前沿距離、外殼、接插頭等指標要求。
該類試塊依據標準中技術1及附錄E的要求而設計,該類試塊主要適用于標準技術1中橫波及縱波檢測以φ3mm橫孔為基準設定靈敏度,試塊依據檢測范圍的不同共設計五塊試塊,試塊設計內容見下表。
序號 | 試塊代號 | 試塊名稱 | 標準反射體(mm) | 檢測范圍(mm) |
1 | SD-1 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 8≤t≤15 |
2 | SD-2 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 15<t≤20< span=""> |
3 | SD-3 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 20<t≤40< span=""> |
4 | SD-4 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | 40<t≤100< span=""> |
5 | SD-5 | φ3mm橫孔試塊 | φ3×40橫孔 | t>100 |
啟航檢測科技(上海)有限公司是一家*從事無損檢測設備代理的公司,主營超聲波檢測設備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數字成像平板等*設備,品牌有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕超、新美達、美國GE等多家產品。長期以來,公司堅持走科技創新之路,不斷拓展產品線及產品技術,加大應用技術人員投入。
公司提供的無損檢測儀器設備包括工業X光機、工業CT、CR、DR、工業洗片機、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機、著色滲透劑、熒光滲透線、工業內窺鏡、大型復合材料超聲波自動化檢測系統、大型超聲波板材檢測系統、大型超聲波管材檢測系統、大型壓力容器超聲波檢測系統、汽車點焊超聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。
超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強劑、密度計、觀片燈、洗片夾、拉環磁鋼、鉛字、射線機、射線燈、個人劑量報警儀、輻射儀、環境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測定管、直型測定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場強度計、白光照度計、紫外照度計、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護背心、鉛衣、像質計、無損檢測配件、
長期以來,依托高素質的技術人員和銷售隊伍,本著誠信守法,客戶*的經營原則,以良好的信譽、豐富的經驗、周到的服務,為客戶提供了的檢測設備及技術解決方案,贏得了國內外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設備、系統及方案應用于中國的各種*工業領域,特別應用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業及電力、特檢、高校及研究機構等。
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