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目錄:蘇州英飛思科學儀器有限公司>>XRF光譜儀>> EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀

EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀
  • EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀
  • EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 英飛思
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
屬性

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>

更新時間:2024-10-29 21:10:21瀏覽次數:742評價

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價格區間 面議 行業專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式 應用領域 環保,石油,地礦,電子,綜合
EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀
EDX8800H MAX專注于對地質材料的主量,微量和痕量元素進行定性和定量分析,其中包括:
?鐵礦? 銅礦? 鋁土礦?貴金屬礦產?稀土礦?原料?磷酸鹽?煤炭?鉛鋅礦?錳礦?鎳礦?石灰石?粘土?石膏?玻璃?土壤?水泥?耐火材料及其他等

EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀

材料分析專家

Simply the Best

>美國AmpTek -FSDD探測器, 高分辨率高計數率

>真空測試環境提供zuiyou輕元素檢測效果

>無損元素分析涵蓋11Na to 92U

>適應各種復雜礦物樣品測試,固體,液體,合金,粉末和泥漿

>多組合濾光片系統,有效提高微量元素檢出限

>堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

EDX-8800H MAX XRF Spectro立式X熒光光譜儀

EDX8800H MAX能量色散熒光光譜儀-礦產分析專家

作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光(EDXRF)元素分析儀,新EDX8800H MAX配置了zuixian進基于Windows基本參數算法的FPFundamental parameter軟件同時配備了zuiyou的高性能硬件,來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體,合金,粉末,液體或者漿液EDX8800H MAX都可以輕松實現從鈉(Na)到鈾(U元素的無損定性和定量分析更快的分析速度,更精確的測試結果,更穩定的儀器性能, 使得EDX8800H MAX成為了客戶進行元素分析的最佳工具之一。

ESI英飛思EDX8800H MAX光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦,從選礦到尾礦,EDX8800H MAX在苛刻的采礦環境中均具有出色的靈活性,分析性能和穩定性。

EDX8800H MAX專注于對地質材料的主量,微量和痕量元素進行性和定量分析其中包括

•鐵礦• 銅礦 鋁土礦•貴金屬礦產•稀土•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦錳礦鎳礦石灰石粘土石膏玻璃土壤水泥耐火材料及其他等

EDX8800H MAX操作簡單,分析性能出色,同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物:塑料材料PEPVC,添加劑等元素分析

>石油化工:燃料,潤滑油監測,添加劑,磨損金屬等中的硫元素分析

>環境:廢水,空氣污染,土壤和地面,排放控制等

>涂層厚度和薄膜:分析多層涂層,鋼涂層,雜質等

>刑偵及公安:證據分析,材料匹配,爆炸物等

>食品,化妝品和藥品:添加劑控制,原材料,有害金屬,包裝材料等

產品特點

作為一款專業為礦產元素分析而設計和生產的光譜儀,EDX-8800H MAX兼顧了耐用性,易于操作和高性價比。其顯著優勢主要有:

無需或者很少的樣品制備,全程無損分析,一到三分鐘即可出結果

•強大的基于Windows的FP(基本參數算法)軟件降低了基體效應的影響

yuan裝進口高功率光管和電制冷FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性,而且具有出色的元素峰分辨率

能同時進行元素和氧化物成分分析

多重儀器硬件保護系統,并可通過軟件進行全程實時監控, 讓儀器工作更穩定、更安全

特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P的測試靈敏度和準確性,同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩定性有了明顯的提高

友好的用戶界面,可定制的分析報告,可一鍵打印測試報告,包括分析結果,樣品信息,光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統,根據不同樣品大小自動切換亦可測試樣品不同位置再求平均值,降低樣品不均勻性造成的誤差

高清內置攝像頭,清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

礦產元素檢測專家EDX8800H MAX

>儀器參數

儀器外觀尺寸: 650mm*600mm*900mm

儀器重量: 105Kg

元素分析范圍:Na11-U92鈉到鈾

可分析含量范圍:1ppm- 99.99%

探測器:AmpTek 高分辨率電制冷FSDD硅漂移檢測器

多道分析器: 4096DPP analyzer 分析器

X光管:yuan裝進口高功率鈹窗光管

高壓發生裝置:電壓最大輸出100kV自帶電壓過載保護

電壓:220ACV 50/60HZ

環境溫度:-10 °C 35 °C


儀器配置

>標準配置

>可選配置

Ag初始化標樣

磨樣機

真空泵

壓片機

礦石專用樣品杯

烘干箱

USB數據線

熔片機

電源線

電子秤

測試薄膜

礦石標準樣

儀器出廠和標定報告

交流凈化穩壓電源

保修卡

150目篩子


功能強大而界面友好的測試軟件

圖片3.png


界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。

軟件內核-基本參數法FP可輕松分析未知樣品。

EDX8800H MAX已在工廠安裝了軟件并進行了數據標定,客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器,基體自動匹配

>自動定性,半定量和定量分析,不同樣品測試譜圖可實時對比

>光譜處理和校正,去除雙倍峰和逃逸峰干擾,降低元素吸收增強效應影響

>光譜背景扣除,有效提高微量元素檢測精度

>可實時刷新測量結果

>簡單的流程欄向導可幫助用戶創建新的自定義標定曲線

>可定制化測試報告,一鍵打印

鋁土礦樣品10次測試穩定性報告

樣片

MgO

Al2O3

SiO2

K2O

CaO

TiO2

MnO

Fe2O3

樣片1

0.438

84.577

8.754

0.196

0.502

3.753

0.049

1.966

樣片2

0.442

84.653

8.880

0.197

0.522

3.799

0.052

1.962

樣片3

0.424

84.508

8.810

0.197

0.509

3.852

0.051

1.983

樣片4

0.427

84.537

8.636

0.196

0.513

3.777

0.051

1.963

樣片5

0.424

84.501

8.709

0.197

0.503

3.791

0.050

1.973

樣片6

0.415

84.496

8.737

0.200

0.513

3.861

0.051

2.013

樣片7

0.450

84.618

8.917

0.197

0.511

3.854

0.051

1.966

樣片8

0.423

84.577

8.689

0.201

0.501

3.838

0.050

1.971

樣片9

0.447

84.481

8.740

0.199

0.495

3.853

0.050

1.971

樣片10

0.453

84.753

8.893

0.201

0.517

3.793

0.052

1.981

平均值

0.434

84.600

8.776

0.198

0.509

3.817

0.051

1.975

標準偏差

0.013

0.155

0.094

0.002

0.008

0.039

0.001

0.015

相對標準偏差

3.10%

0.18%

1.08%

0.97%

1.63%

1.02%

1.91%

0.76%


 

 

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