目錄:蘇州英飛思科學儀器有限公司>>XRF光譜儀>>礦石分析儀>> EDX9000 PLUS B礦石成分檢測儀
分析含量范圍 | 1ppm-99.999% | 價格區間 | 面議 |
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能量分辨率 | 120eV | 行業專用類型 | 通用 |
儀器種類 | 臺式/落地式 | 應用領域 | 環保,石油,地礦,電子,綜合 |
元素分析范圍 | Na-U | 重復性 | 0.01% |
礦石成分檢測儀 | XRF光譜儀 |
礦石成分檢測儀EDX9000 Plus B(能量色散X射線熒光光譜儀)介紹:
EDX9000 Plus B是一款多功能臺式能量色散X射線熒光 (XRF) 分析儀,適用于從鈉 (Na) 到鈾 (U) 的元素分析,適用于無機和有機-無機雜化材料、礦物、建筑材料等的批量和痕量分析以及油和燃料、聚合物、塑料、食品、藥品、化妝品和環境中的微量元素分析。
它可以處理各種樣品類型,包括固體、壓制粉末和松散粉末、液體和過濾器,并在從100%到亞ppm水平(對于較重元素)的濃度范圍內執行無損定量分析,樣品重量從幾毫克到千克。 使用FP無標準分析解決方案可獲得元素篩選和元素比率。
Rh 陽極X射線管保證輕元素分析的良好性能。該光譜儀具有真空可拆卸進樣器,可容納大尺寸樣品。
EDX9000 Plus B光譜儀可測定固體、液體或粉末、溶液和薄膜、過濾器上的沉積物中從 Na(鈉)到 U(鈾)的元素。
光譜儀的操作是基于用X射線管產生的初級X射線照射樣品,記錄樣品元素的熒光,并借助校準方程計算元素濃度,校準方程是元素之間的關系元素注冊的二次發射的濃度和強度。該光譜儀具有高分辨率的譜線,因此可以準確測定復雜基質物質中的元素。
EDX9000 Plus B XRF熒光光譜分析儀EDXRF應用:
貴金屬成分分析
控制段塞中的段塞堿含量
有害重金屬分析,符合RoHS指令
土壤中有害重金屬分析
RPF分析
礦石成分檢測儀特征:
集中簡單功能實現合理價格
可根據應用輕松定制
安裝SDD后,無需液氮或冷卻水
快速實現成分的無損分析
針對中等或重金屬元素的增強靈敏度
無需設置控制區域
高能分辨率:FWHM<125eV@5.9keV
高計數率:事件計數>2×105cps
可實現電冷,無需液氮
儀器規格:
光譜儀尺寸:560mm*380mm*410mm
樣品室尺寸:460mm*310mm*95mm
真空樣品室尺寸:Φ150mm×高75mm
重量:45Kg
元素范圍:Na11-U92
分析含量范圍:1ppm- 99.99%
探測器:AmpTek 高分辨率 SDD
DPP分析儀:4096通道DPP分析儀
激發源:50W X射線管
高壓機組:0-50kV
電源:220ACV 50/60HZ
環境:-10 °C 到35 °C
標準落地式立式XRF熒光光譜分析儀:
Ag-校準標準磨機
真空泵壓樣機
樣品杯干燥箱
USB線熔珠機
電源線平衡
測試Mylar礦物標準樣品
校準報告功率穩定器
保修卡