EDX8000T PLUS 參考價：188000
Simply The Best微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設計，可分析不規則樣品厚度高計數率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現快速，無損，高精度測量高分辨率...
鍍層測厚光譜儀 參考價：面議
材料的鍍層厚度是一個重要的生產工藝參數，鍍層厚度的控制在產品質量、過程控制、成本控制中都發揮著重要作用。英飛思開發的EDX8000T Plus鍍層測厚儀是專門針...
膜厚儀X射線鍍層測厚儀 參考價：100000
膜厚儀X射線鍍層測厚儀EDX8000T膜厚儀EDX-8000T 型XRF鍍層測厚儀/電鍍液分析儀Simply The Best垂直光路設計，專為鍍層厚度分析而設...
X射線鍍層測厚儀 參考價：面議
X射線鍍層測厚儀EDX8000T PLUS微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設計高計數率硅漂移檢測器 (SDD) 可實現快速，無損，高精度測量高分辨率樣品觀測系...
EDX-8000B光譜膜厚儀 參考價：面議
EDX-8000B型XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上...
XRF鍍層測厚儀 參考價：面議
XRF鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線能量很低，所...
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