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現貨ENA射頻網絡分析儀300kHz至3GHz租賃
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E5070B
E5070B Agilent E5070B網絡分析儀
Agilent E5070B網絡分析儀提供了快、的射頻器件測量能力。其*的體系結構通過減少掃描次數來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。
300 kHz 至 3GHz
在測試端口處保持125 dB動態范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內置Visual Basic ® for Applications(VBA)
測量向導助手軟件
主要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向導助手軟件
要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內置Visual Basic for Applications(VBA)
測量向導助手軟件
要技術指標
在測試端口處保持125 dB動態范圍(典型值)
掃描速度:9.6微秒/點
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉換
用于變頻設備的頻率偏置模式
內置Visual Basic ? for Applications(VBA)
測量向導助手軟件
在測試端口處保持125 dB動態范圍(典型值)
安捷倫 E5070B網絡分析儀提供了確的射頻器件測量能力。其良好的體系結構通過減少掃描次數來完成多端口測量,進一步提高了測試吞吐率。
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