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北京儀光科技有限公司

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Sensofar白光干涉儀:精密測量的科技之光

閱讀:494      發布時間:2024-5-8
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  在精密測量領域,Sensofar白光干涉儀以其良好的性能和廣泛的應用,成為了科研和工業界的璀璨明珠。這款儀器憑借其特殊的白光干涉技術,為各種精密器件及材料表面的測量提供了全新的解決方案。
 
  Sensofar白光干涉儀的工作原理基于干涉現象,通過兩束光線的相互干涉,形成明暗條紋,從而實現對物體長度、形狀和表面質量的精確測量。其高精度、高靈敏度以及非接觸式的測量方式,使得它在半導體制造、光學加工、微納材料及制造等領域得到了廣泛應用。
 

 

  作為一款高精度的測量儀器,Sensofar白光干涉儀不僅具備亞納米級的測量精度,還具備快速、高效的測量能力。它結合了精密Z向掃描模塊和3D建模算法,能夠對器件表面進行非接觸式掃描,并快速建立表面3D圖像。通過系統軟件對圖像進行數據處理與分析,可以獲取反映器件表面質量的2D、3D參數,為科研和工業界提供了強有力的技術支持。
 
  在科研領域,它被廣泛應用于材料科學、物理學、化學等學科的研究中。它可以幫助科學家們更加深入地了解材料的微觀結構和性能,為新材料的研發提供有力的支持。在工業領域,它同樣發揮著重要作用。它被廣泛應用于機械制造、半導體、光學、航空航天等行業,為精密器件的加工和檢測提供了重要的技術保障。
 
  總之,Sensofar白光干涉儀以其良好的性能和廣泛的應用,成為了精密測量領域的杰出代表。它將繼續在科研和工業界發揮重要作用,為人類的科技進步和產業發展做出更大的貢獻。

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