E2142A 辮接無源器件測試系統可對經過辮接和封裝處理的無源器件進行光學表征。它具有高性能和較長的正常運行時間。

E2142A 為測試辮接器件提供了完整的全自動解決方案，并且可以進行定制以滿足特定應用的需求。該系統可在制造和工程設計環境中自動測量無源器件。

• 采用高速并行測量，可以提高吞吐量。
• 能夠更快確定良率點，進一步提高良率。
• 確保只有合格器件可以通過終測試，因而可以提*和客戶滿意度。

測量平臺

E2142A PCT 系統標配高性能可調諧激光源（TLS），其低 SSE 輸出可實現更寬的動態范圍，而快速調諧速度可實現高吞吐量。使用快速功率計和主機，支持您進行高吞吐量測量。

E2142A PCT 系統采用了是德科技性能卓/越的光學測量儀器，可以提供更高的精度和更寬的動態范圍。標準配置能夠測量插入損耗（IL）、偏振相關損耗（PDL）、回波損耗（RL）、偏差、紋波、中心波長和帶寬、第 N 個通道隔離度（串擾）和總隔離度。E2142A 測量平臺配有是德科技光基礎程序庫和參考測試，能夠支持新興的測量技術。

常用軟件體系結構

E2142A 利用多個是德科技標準系統平臺所通用的軟件環境和體系結構，可以確保將簡單但特別靈活的模塊化體系結構*整合到商用測試執行解決方案中。您的測試/制造工程師能夠始終保持對制造流程的控制。