產地類別 | 進口 | 應用領域 | 能源,電子 |
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使用吉時利4200A-SCS參數分析儀(參數測試儀) 加快各類材料、半導體器件和良好工藝的開發,完成制程控制、可靠性分析和故障分析。 4200A-SCS是業內性能好的電學特性半導體參數分析儀,提供同步電流電壓曲線測試(IV曲線測試)、電容電壓曲線測試(CV曲線測試)和超快脈沖IV曲線測量。
參考價 | 面議 |
更新時間:2024-02-18 07:11:12瀏覽次數:1155
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Tek 吉時利4200A-SCS半導體參數分析儀
推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現測量和分析能力。此外,嵌入式測量專業知識提供測試指導,并讓您對終結果充滿信息。
特點
使用吉時利新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。
特點
使用 4215-CVU 進行 Femtofarad (1e-15F) 電容測量
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。
特點
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU,通過高測試連接電容進行穩定的低電流測量
特點
4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點
吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。
Tek 吉時利4200A-SCS半導體參數分析儀
產品技術資料 | 型號 | 描述 | 價格 |
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查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKA 高分辨率 IV 套件 | 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA:一個預放大器 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKB 高分辨率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4200-PA:一個預放大器 4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
查看產品技術資料 | 4200A-SCS-PKC 高功率 IV 和 CV 套件 | 4200A-SCS:參數分析儀主機 4201-SMU:兩個用于高容量設置的中功率 SMU 4211-SMU:兩個用于高容量設置的高功率 SMU 4200-PA:兩個預放大器 4215-CVU:一個高分辨率多頻 C-V 單元 8101-PIV:一個帶有采樣裝置的測試夾具 | 索取報價 |
查看產品技術資料 | 4200-BTI-A 超快 NBTI/PBTI 套件 | 用于使用硅 CMOS 技術進行的復雜 NBTI 和 PBTI 測量 4200-BTI-A 套件包括:
| 索取報價 |