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半導體制冷DSC-500差示掃描量熱儀
概述:
半導體制冷DSC-500差示掃描量熱儀為觸摸屏式,可進行玻璃化轉變溫度測試、相轉變測試、熔融和熱焓值測試、產品穩定性、氧化誘導期測試。
儀器符合國家標準:
GB/T 19466.3- 2009/ISO 11357-3:1999 第6部分 氧化誘導期氧化誘導時間(等溫OIT)和氧化誘導溫度(動態OIT)的測定;
GB/T 19466.2- 2004/ISO 11357-2:1999第2部分:玻璃化轉變溫度的測定;
GB/T 19466.3- 2004/ISO 11357-3:1999第3部分:熔融和結晶溫度及熱焓的測定。
GB/T 19466.4–2016/ISO 11357-4:1999第4部分:比熱容的測定;
技術特點:
氮氣流量,差熱信號,各種開關狀態,流量歸零。
技術參數:
配置清單:
產品應用范圍: