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敞開式HEIDENHAIN直線光柵尺
高質量的光柵和掃描方式是直線光柵尺高精度和可靠工作的保證。海德漢敞開式直線光柵尺采用單場掃描原理，由單一的大型掃描場生成掃描信號。測量基準上的的局部污染（例如安裝過程中的手指印或導軌的油滴污染）只影響信號分量光強，因此等量地影響掃描信號。盡管這樣的污染造成輸出信號改變，但其偏移和相位不受影響。這些信號可高倍頻地細分，單信號周期內的位置誤差極小
產品簡介
詳細介紹
敞開式HEIDENHAIN直線光柵尺
測量精度
直線測量精度主要取決于
• 光柵質量，
• 光柵基體質量，
• 掃描質量，
• 信號處理電子電路質量和
• 光柵尺在機床內的安裝情況。
可將這些因素細分為特定編碼器的位置誤 差和應用相關的因素。為評估可獲得的系 統精度，必須綜合考慮各項因素中每一 項。
特定光柵尺位置誤差
特定光柵尺位置誤差包括
• 測量基準的精度，
• 細分精度，和
• 位置信號噪音。 測量基準的精度 測量基準的精度主要取決于
• 光柵的均勻性和柵距定義，
• 光柵與其基體找正情況，和
• 光柵基體的穩定性。
測量基準的精度由未補償的基線誤差大 值表示。在理想條件下，用批量生產的讀 數頭測量位置誤差，用于確定該精度。測 量點之間的距離等于信號周期的整數倍。 因此，細分誤差無影響。
精度等級a決定長度不超過一米的長度范 圍內基線誤差上限。對于特殊光柵尺，還 提供已定義的測量基準間距的基線誤差。
細分精度
細分精度主要受以下因素影響
• 信號周期大小，
• 光柵的均勻性和柵距定義，
• 掃描掩膜質量，
• 傳感器特性，及
• 信號處理質量。
細分精度由大批量生產的測量基準確定， 并用細分誤差的大典型值u表示。帶模 擬接口的光柵尺用海德漢電子設備（例如 EIB 741）測試。該大值不含位置信號噪 音，并將其標注在技術參數中。
細分誤差在非
敞開式HEIDENHAIN直線光柵尺
LIDA 479，LIDA 489
增量式直線光柵尺，測量范圍可達6 m
• 測量步距達10 nm
• 自帶限位開關
• 鋼尺帶粘結在安裝面上
• 尺帶和讀數頭配套使用
