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HEIDENHAIN直線光柵尺與掃描掩膜之間有相對運動時，衍
射波面產生相位移：移過一個柵距時將正
一級衍射波面在正方向上偏移一個光波波
長，而負一級衍射光波面在負方向上偏移
一個光波波長。由于這兩束光離開相位光
柵時相互發生干涉，這兩束光彼此相對位
移兩個光波波長。也就是說，相對運動一
個柵距可以得到兩個信號周期。
產品簡介
詳細介紹
HEIDENHAIN直線光柵尺： 其實起到的作用是對刀具和工件的坐標起一個檢測的作用,在數控機床中常用來觀察其是否走刀有誤差,以起到一個補償刀具的運動的誤差的補償作用.其實就象人眼睛看到我切割偏沒偏的作用.然后可以給手起到一個是否要調整我是否要改變用力的標準，相當于眼睛.增量測量法 增量測量法的磁柵由周期性柵線組成。
通 過計算自某點開始的增量數（測量步距 數）獲得位置信息。由于必須用參考 點確定位置值，因此測量基準的光柵尺上 還有一個參考點刻軌。在光柵尺上，由參 考點確定的位置是在一個信號周期分 配的。因此，必須通過掃描參考點建立絕 對基準點或確定上次選擇的原點。
海德漢光柵尺在不理想的情況下，可能需要運動機床 測量范圍的相當大部分。為加快和簡化 “參考點回零”操作，許多海德漢尺帶距 離編碼參考點，這些參考點之間彼此相距 數學算法確定的距離。因此只需運動數毫 米，一旦移過兩個相鄰參考點后，后續電 子電路就能找到參考點位置（見下 表）。距離編碼參考點的光柵尺在型號后 均帶字母“C”（例如LIF 181C）。 對于距離編碼參考點，參考點B的位 置用兩個參考點間步距數和以下公式計 算：
HEIDENHAIN直線光柵尺光電掃描 海德漢的大多數光柵尺采用光電掃描原 理。光電掃描在工作中無接觸，因此無磨 損。光電掃描可以檢測到非常細小的光 柵，柵線寬度可僅數微米，并能輸出非常 細小的信號周期信號。 測量基準的柵距越小，光電掃描的衍射現 象越嚴重。
海德漢直線光柵尺采用兩種掃 描原理：
• 成像掃描原理用于10 µm至200 µm的柵 距。
• 干涉掃描原理用于柵距4 µm甚至更小柵 距的光柵。 成像掃描原理 簡單地說成像掃描原理是用透射光生成信 號：兩個柵距相同或相近的光柵與掃描掩 膜彼此相對運動。
掃描掩膜的基體為透明 色，而作為測量基準的光柵材料可為透明 材料也可以為反光材料。 當平行光穿過光柵時，以特定的間隔形成 明暗的光影區。在該處設有柵距相同或相 近的掃描光柵。當兩個光柵相對運動時， 入射光被調制：在狹縫對齊時，光線通 過。
HEIDENHAIN光柵尺如果一個光柵的刻線與另一個光柵的 狹縫對齊，光線無法通過。光電池將這些 光強變化轉化成電信號。特殊結構的掃描 掩膜將光強調制為近正弦輸出信號。光柵 條紋的柵距越小，掃描掩膜與光柵尺間的 間距越小，公差越嚴。對于成像掃描原理 的光柵尺，10 μm或更大柵距的光柵尺可 滿足實用的安裝公差要求。 LIC和LIDA系列直線光柵尺為成像掃描原 理。
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