SMPS掃描電遷移率粒徑譜儀(Scanning Mobility Particle Sizer)是一個納米顆粒粒徑譜分析系統。
    Palas® 通用掃描遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X / 2100X / 2200X 型號）可以確定 8 至 1200 nm 的粒徑分布。該系列已經集成了 X 射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用 Kr-85），優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。
    Palas®通用掃描遷移率粒度儀（U-SMPS）系統包括一個分類器[在ISO 15900中定義稱為差動遷移率分類器（DEMC），也稱為差動遷移率分析儀（DMA）]，根據氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并傳遞到出口。然后，在下游的Charme®氣溶膠靜電計中測量這些粒子攜帶的電荷。

    氣溶膠靜電計的一個主要優點是可以進行非常快速的測量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程或顆粒發生器的下游）?？梢酝ㄟ^物理參數直接追溯每時間單位（流量）的電荷測量值。其結果是，此方法主要用作凝結粒子計數器（例如UF-CPC）校準期間的參考。

    U-SMPS使用觸摸屏圖形用戶界面進行操作?？梢栽诙潭?0秒內執行單粒子分布掃描，或者多在128個尺寸通道中執行掃描，在此期間，DEMC分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上線性和對數顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估（豐富的統計和平均值計算）和導出功能。