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菲希爾Fischer DUALSCOPE MPO 涂鍍層測厚儀

菲希爾Fischer DUALSCOPE MPO 涂鍍層測厚儀，在鐵磁性及非磁性金屬上簡便、高精度測量涂層厚度理想選擇

新款DUALSCOPE®MPO采用廣受認(rèn)可的Fischer探頭技術(shù),是*為小巧并能*大程度滿足您測量需要的儀器。它測量精度高、界面友好且結(jié)實(shí)耐用。對不復(fù)雜工件的現(xiàn)場測量尤為理想。 內(nèi)置探頭,采用磁感應(yīng)及電渦流方法,可快速無損地測量涂鍍層厚度。DUALSCOPE&MPO自動(dòng)識(shí)別基材例如鐵或鋁并選擇適合的測量方法。可顯示*重要的統(tǒng)計(jì)參數(shù)。由于有著出色的重復(fù)精度及統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)功能,使得這款儀器在同級別產(chǎn)品中****.

菲希爾Fischer DUALSCOPE MPO 涂鍍層測厚儀有以下技術(shù)特點(diǎn)及優(yōu)勢:
·可在所有的金屬(鋼鐵或非鐵磁性金屬)基材上測量
·儀器自動(dòng)識(shí)別鍍層下的基材材料并選擇相應(yīng)的測量方法
·出色的重復(fù)精度
·受基材透磁率,電導(dǎo)率和幾何形狀(曲率和厚度等)影響小
·享有磚利的電導(dǎo)率補(bǔ)償技術(shù)(電渦流方法)
·足夠小巧,甚至可以在比較難接觸到的區(qū)域進(jìn)行可靠的測量

日常使用理想選擇
·無需校準(zhǔn)即可測量。 在被測件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生大的改變時(shí),單點(diǎn)校準(zhǔn)功能可修正這些影響并在選定的測量范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的測量
·執(zhí)行簡易的零點(diǎn)校正(歸一化)可在被測件形狀或基材材質(zhì)發(fā)生小的改變時(shí)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的測量
·統(tǒng)計(jì)功能(包含平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、*大值和*小值)
·快速的單手操作:將儀器放置于工件上即可看到測量讀數(shù)
·兩個(gè)背光LCD顯示屏,可方便地在儀器的任何位置,甚至是頂部,看到讀數(shù)
·自動(dòng)開機(jī)/關(guān)機(jī)功能
·由于經(jīng)過加固處理及采用了有硬質(zhì)鍍層的探頭,儀器經(jīng)久耐用
·輕巧,包含電池在內(nèi)僅重132克
其他實(shí)用功能
·連續(xù)測量模式可掃描工件表面涂鍍層厚度,例如:大容器結(jié)構(gòu)
·可儲(chǔ)存1000個(gè)讀數(shù)
·測量時(shí)有聲音和光學(xué)信號(hào)
·um和mils兩種單位
·低電壓警示信息

實(shí)際應(yīng)用舉例
·鐵上電鍍鋅,鉻,銅等鍍層
·鐵上油漆,清漆,塑料等涂層園
·非鐵磁性金屬(鋁,銅,黃銅)或無磁性不銹鋼上的油漆,清漆,塑料等涂層
·鋁上陽極氧化膜測量鐵上油漆的厚度
·測量鋁上陽極氧化膜的厚度
·測量鐵上鍍鋅層的厚度,測量小曲率工件必須進(jìn)行校準(zhǔn)以獲得準(zhǔn)確的測量結(jié)果

菲希爾Fischer DUALSCOPE MPO 涂鍍層測厚儀技術(shù)規(guī)格

全球服務(wù)
位于德國Sindelfingen 的 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik,是一家有著超過55年歷史,在下述領(lǐng)域中處于**地位的專業(yè)企業(yè):

·鍍層厚度測量
·材料分析
·微硬度測量
·材料測試

所有儀器由位于德國Sindelfingen的總部工廠研發(fā),然后在德國和美國生產(chǎn)。憑借廣泛的經(jīng)驗(yàn),與工業(yè)和研究部門的密切合作,我們可以為客戶的特定項(xiàng)目提供*佳的解決方案.elmut Fischer 集團(tuán)提供的專家咨詢和廣泛服務(wù)包括:

·由技術(shù)銷售經(jīng)理提供的高質(zhì)量的咨詢服務(wù)
·德國和美國的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室,可開發(fā)滿足客戶特殊測量要求的應(yīng)用程式
·實(shí)用的培訓(xùn)課程和個(gè)別用戶的培訓(xùn)
·德國Sindelfingen,取得DKD認(rèn)證資格的校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室,可對標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行鑒定

Helmut Fischer 集團(tuán)在全球所有的工業(yè)化國家中都派有代表。作為有著高質(zhì)量產(chǎn)品和廣受客戶肯定的高科技企業(yè),Helmut Fischer集團(tuán)的所有成。員都已通過EN ISO 9001:2000質(zhì)量體系認(rèn)證。
X-RAY XDAL,采用X射線熒光法測量涂鍍層厚度和進(jìn)行材料分
FISCHERSCOPE®MMSPC,通用測量平臺(tái)系統(tǒng),可采用磁感應(yīng)、電渦流和?背散射法進(jìn)行涂鍍層厚度測量和常見材料測試
ISOSCOPE,DELTASCOPE和 DUAL-SCOPE®手提式儀器,配有內(nèi)置探頭或外置獨(dú)立探頭, 可在現(xiàn)場快速簡便測量涂鍍層厚度