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SpecMetrix® DFTQA 實驗室干膜厚度質量保證系統
SpecMetrix® DFTQA 系統為底漆和面漆干膜厚度涂層提供非接觸式、非破壞性和實時厚度測量。
由SpecMetrix提供,工業物理旗下專業的涂層測試品牌,致力于創新的涂層厚度測量。
SpecMetrix® DFTQA系統為干膜厚度提供了一個全新的非接觸、非破壞性和實時絕對測量數據標準。無論是底漆、面漆、透明或著色樣品,我們的DFTQA系統都能讓您獲得詳細的涂層測量數據和分析。
簡化質量控制流程
SpecMetrix® DFTQA系統專為簡化干膜厚度的質量控制流程而設計,它是我們在卷材涂層實驗室測量中推薦的工具之一,具有亞微米級精度。它利用我們的*技術來改進涂層工藝和質量控制,同時減少質量控制實驗室或研發中心的成本。
DFTQA系統加速了離線樣品測試,受到多個行業和應用中質量控制實驗室的信賴。
多功能測量能力
SpecMetrix® DFTQA系統是用于干膜厚度分析的極其多功能的系統:
· 分析干涂層
· 清晰、有色或著色涂層
· 可測量底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層(包括聚酯、環氧樹脂、紋理、金屬化和PVDF)
· 適用于任何金屬基材上的涂層,包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鍍鋁鋅鋼板,甚至任何油漆顏色上的涂層
· 廣泛應用 – 實時測量單層或雙層涂層,或離散層,精度達到亞微米級
· 雙重功能 – 單個系統配置包括兩個光學組件
高精度和可重復性
使用SpecMetrix® DFTQA,您可以對質量控制和質量保證數據更加有信心。其測量精度不受操作員技能或人為誤差的影響,使用戶能夠獲得更高的重復性和再現性。
完整的涂層洞察
憑借SpecMetrix精確和創新的ROI增強光學干涉技術,用戶可以通過非接觸和非破壞性手段獲得詳細的干膜厚度測量數據。
該技術極其精確,能為用戶提供其涂層的真實圖像。DFTQA系統允許用戶獲取整個樣品區域的準確涂層厚度和干膜厚度測量,而不是僅限于代表性較差的孤立測量點。
此外,單個系統配置可以包括雙重光學組件,使用戶能夠更快地測量底漆和面漆。我們的光學技術高度*,并在涂層行業中廣泛應用。
強大的SensorMetric軟件
作為測量分析的核心部分,我們用戶友好的軟件包將所有測量數據存儲到Excel®中,或與工廠網絡接口,以便在生產運行期間或之后進行SPC分析。
此外,我們的軟件還包括一個配方助手,幫助操作員創建新的涂層配方并編輯現有的配方和配方方案。
· 非接觸且非破壞性 – 測量過程中不會損壞涂層或基材,保持樣品的完整性。
· 絕對厚度測量 – 提供樣品區域內精確的涂覆層厚度和干膜厚度(DFT)測量。無需針對不同顏色或基材進行重新校準。
· 基材獨立 – 可測量金屬基材上的涂層,包括鋁、鋼、鍍錫、冷軋鍍鋁鋅鋼板,甚至任何油漆顏色上的涂層。
· 廣泛應用 – 實時測量已應用的底漆、底涂層、面漆、清漆、背涂層、層壓膜、透明涂層及其他卷材涂層。
· 優秀的Gage R&R - 測量精度不受操作員技能或人為誤差的影響,確保系統的可重復性和再現性
· 環保 – 非破壞性測試方法有助于減少廢料、返工勞動力和能源成本。
· 雙重功能 – 單個系統配置包括雙重光學組件,使底漆和面漆測量速度更快。
· 強大的SensorMetric軟件 – 用戶友好的軟件包將所有數據存儲到Excel®中,或與工廠網絡接口以便進行SPC分析。
規格
應用: 光學測試, 油墨與涂料, 涂層檢測, 涂層測試
材料: 油墨和涂料
測量范圍: 0.7至350微米*(透明/清漆涂層),0.7至75微米*(著色/不透明涂層)* 取決于所選的光學組件
精度: 涂層厚度的±1%(標稱值)
測量速度: 每秒最多100次
溫度范圍: 0°至50°C
輸出指標: 微米、密耳、g/m2
操作系統: Windows®平臺
制造: 美國制造
認證: CE認證、UL認證和CSA認證
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