100KV無級(jí)調(diào)壓電壓擊穿測(cè)試儀本標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)批準(zhǔn)被國防部機(jī)構(gòu)采用。耐電壓擊穿試驗(yàn)儀1. 范圍

1.1該試驗(yàn)方法覆蓋了在工業(yè)頻率下，即所規(guī)定的特定條件下，測(cè)定固體絕緣材料絕緣強(qiáng)度的流程。2，3

1.2除非另有說明，否則本測(cè)試的規(guī)定頻率為60Hz。但是，該測(cè)試方法同樣可以應(yīng)用于25到800Hz的條件下。如果頻率大于800Hz，那么將產(chǎn)生介質(zhì)加熱的問題。

1.3本測(cè)試方法將與其他ASTM標(biāo)準(zhǔn)或涉及該試驗(yàn)方法的其他標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合使用。本方法的參考文獻(xiàn)中將詳細(xì)說明所使用的具體標(biāo)準(zhǔn)（參見5.5）。

1.4本方法可以應(yīng)用于各種溫度，以及適宜的氣相或液相環(huán)境介質(zhì)。

1.5本方法不能用于測(cè)定在本測(cè)試條件下為液態(tài)的絕緣材料。

1.6本方法不能用于測(cè)定本征絕緣強(qiáng)度，直流電絕緣強(qiáng)度，或是電應(yīng)力條件下的熱失效（參考測(cè)試方法D3151）。

1.7本測(cè)試方法于測(cè)定擊穿電壓與試樣厚度的關(guān)系（擊穿）。也能測(cè)定擊穿電壓與固體試樣表面情況以及氣相或液相環(huán)境介質(zhì)的關(guān)系（閃絡(luò)）。如果加上第12條的修改說明，本測(cè)試方法還能用于驗(yàn)證試驗(yàn)。

1.8本測(cè)試方法與國際電工協(xié)會(huì)（IEC)出版的243-1標(biāo)準(zhǔn)類似。本方法中的所有流程包含在IEC 243-1標(biāo)準(zhǔn)中。本方法和IEC 243-1主要是在編輯上有所區(qū)別。

1.9本標(biāo)準(zhǔn)并沒有列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。具體的危害將在第7部分中闡述。也可以參見6.4.1節(jié)。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀2. 引用文件

2.1ASTM標(biāo)準(zhǔn)：4

D374 固體電絕緣體厚度的測(cè)試方法（2013年取消）5

D618 試驗(yàn)用調(diào)節(jié)塑料操作規(guī)程

D877 用圓盤電極測(cè)定電絕緣液體介電擊穿電壓的試驗(yàn)方法

D1711 電絕緣相關(guān)術(shù)語

D2413 用液體介質(zhì)浸漬的絕緣紙和紙板的制備規(guī)程

D3151 在電氣應(yīng)力下固體電氣絕緣材料的熱失效的測(cè)試方法（2007年取消）5

D3487 在電設(shè)備中使用的礦物絕緣油的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范

D5423 強(qiáng)制對(duì)流試驗(yàn)爐中的電氣絕緣評(píng)估規(guī)范

2.2IEC標(biāo)準(zhǔn)

出版物243-1固體絕緣材料介電強(qiáng)度的試驗(yàn)方法—第1部分：在工業(yè)頻率下測(cè)試6

2.3ANSI標(biāo)準(zhǔn)

C68.1 絕緣測(cè)試技術(shù)，IEEE標(biāo)準(zhǔn)號(hào)47

1本試驗(yàn)方法在ASTM委員會(huì)D09（電子和電氣絕緣材料）的管轄范圍內(nèi)，D09.12分會(huì)（電學(xué)試驗(yàn)）負(fù)直接責(zé)任。

本版本于2013年4月1日被批準(zhǔn)，2013年4月出版。首版于1922年被批準(zhǔn)。上一版為D149-09于2009年被批準(zhǔn)。DOI:10.1520/D0149-09R13。

2Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量," 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。

3Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿," 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA??, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。

4對(duì)于參照的ASTM標(biāo)準(zhǔn)，請(qǐng)查看ASTM網(wǎng)站，或聯(lián)系A(chǔ)STM客戶中心，郵件：service@astm.org。對(duì)于ASTM標(biāo)準(zhǔn)卷冊(cè)的信息，參看ASTM網(wǎng)站的標(biāo)準(zhǔn)文件摘錄頁。

5該歷史標(biāo)準(zhǔn)的最新批準(zhǔn)版本見網(wǎng)站

6可從國際電工學(xué)協(xié)會(huì)（IEC）獲得，地址：3 rue deVarembé, Case postale 131, CH-1211, Geneva 20, Switzerland,

7可從美國國家標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)(ANSI)獲得，地址：25 W. 43rd St.,4th Floor, New York, NY 10036, 

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀3. 術(shù)語

3.1定義：

3.1.1介質(zhì)擊穿電壓（電擊穿電壓），名詞：使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢(shì)差（參見附錄X1）。

3.1.1.1討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱“擊穿電壓"。

3.1.2介電失效（在測(cè)試中），名詞：指在測(cè)試限制的電場(chǎng)條件下，能夠持久由介電電導(dǎo)率上升所證明的情況。

3.1.3絕緣強(qiáng)度，名詞：指在測(cè)試的特定條件下，使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。

3.1.4電氣強(qiáng)度，名詞：參見絕緣強(qiáng)度。

3.1.4.1討論一在國際上，“電氣強(qiáng)度"更常用些。

3.1.5閃絡(luò)，名詞：指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周圍介質(zhì)的破壞性電火花，不一定對(duì)絕緣體產(chǎn)生損害。

3.1.6其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語的定義，參見術(shù)語D1711。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀4. 測(cè)試方法概要

4.1在工業(yè)電頻率條件下（如無特殊說明，則為60Hz），對(duì)測(cè)試樣品采用不同的電壓。以使用電壓所描述三種方法中的一種，將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當(dāng)電壓開始，升高到測(cè)試樣品發(fā)生介電失效為止。

4.2大多數(shù)情況下，在測(cè)試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測(cè)試電極，以進(jìn)行電壓測(cè)試。測(cè)試樣品可以是模制的，也可以是鑄造的，或是從扁平薄板或厚板上切割下來的。也可以使用其他的電極或樣品結(jié)構(gòu)以適應(yīng)樣品材料的幾何形狀，或是模擬正在被評(píng)估材料的特定用途。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀5. 意義和使用

5.1電絕緣的絕緣強(qiáng)度是決定材料可以在何種條件下使用的關(guān)鍵性能。在很多情況下，材料的絕緣強(qiáng)度是所使用裝置設(shè)計(jì)的決定性因素。

5.2本方法中介紹的測(cè)試，將用于提供部分所需的信息，以判斷材料在一定應(yīng)用條件下的適用性；當(dāng)然也能用于檢測(cè)由于流程的變化，老化的程度，或是其他制造或環(huán)境條件而造成的變化或是與正常特征的偏差。該測(cè)試方法可以有效地應(yīng)用于流程控制，驗(yàn)證或研究測(cè)試。

5.3本測(cè)試方法所獲得的結(jié)果，很少能直接用于實(shí)際使用材料介電性能的判斷。在大多數(shù)情況下，還需要對(duì)其他功能測(cè)試和/或?qū)Σ牧蠝y(cè)試所獲得的結(jié)果進(jìn)行比較，以估計(jì)出它們對(duì)特定材料的影響，才能進(jìn)行評(píng)價(jià)。

5.4在第12章中將具體說明三種電壓使用方法。方法A，快速測(cè)試；方法B，逐步測(cè)試；方法C，慢速測(cè)試。方法A常用于質(zhì)量控制測(cè)試。較費(fèi)時(shí)的方法B和C通常給出較低的結(jié)果，但在對(duì)不同材料進(jìn)行相互比較時(shí)，它們所給出的結(jié)果更有說服力。如果可以安裝電動(dòng)電壓控制器，那么慢速測(cè)試法將比逐步測(cè)試法更簡(jiǎn)單，也更常用。方法B和C所獲得的結(jié)果可以相互比較。

5.5詳細(xì)說明本測(cè)試法的文件如下：

5.5.1電壓應(yīng)用的方法。

5.5.2如果是慢速測(cè)試法，應(yīng)說明電壓的增速。

5.5.3測(cè)試樣品的選擇，準(zhǔn)備和調(diào)整。

5.5.4測(cè)試時(shí)的環(huán)境介質(zhì)和溫度。

5.5.5電極。

5.5.6在可能的情況下，電流傳感元件失效的標(biāo)準(zhǔn)，以及，

5.5.7以及任何與推薦流程的偏差。

5.6如果5.5所列要求沒有出現(xiàn)在說明文件中，可按以下推薦進(jìn)行處理。

5.7如果5.5所列的條目沒有詳細(xì)說明，那么就是在參考就不充分條件下進(jìn)行測(cè)試，則測(cè)試不符合本方法的要求。如果5.5所列的條目沒有獲得嚴(yán)格控制，那么就無法實(shí)現(xiàn)15.2和15.3所陳述的精度。

5.8電流傳感元件失效標(biāo)準(zhǔn)（電流設(shè)定和反應(yīng)時(shí)間）的變化將明顯影響測(cè)試結(jié)果。

5.9附錄X1包含了對(duì)絕緣強(qiáng)度測(cè)試顯著性更為復(fù)雜的討論。

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀6. 裝置

6.1電壓源—由變化正弦低壓電源通過升壓變壓器提供測(cè)試電壓。作為電壓源的變壓器及相關(guān)的控制應(yīng)具有以下功能：

6.1.1電壓峰值與電壓有效值的比率應(yīng)等于(1.34到1.48)，對(duì)于電路中的測(cè)試樣品，所有的電壓都應(yīng)大于擊穿電壓的50%。

6.1.2電壓應(yīng)具有滿足維持到擊穿電壓的能力。對(duì)于大多數(shù)的材料來說，使用與表1所示電極相似的電極，輸出電流強(qiáng)度為40mA就可以了。對(duì)于更復(fù)雜的電極結(jié)構(gòu)，或是對(duì)于高損耗測(cè)試材料，則需要更高的電流。對(duì)于大多數(shù)測(cè)試來說，電源需要在測(cè)試低電容的0.5kVA，10kV到5kVA，100kV的范圍內(nèi)變化。

表1 用于不同絕緣材料絕緣強(qiáng)度測(cè)試的典型電極A

A在ASTM標(biāo)準(zhǔn)中，這些電極都是最常被或是被參考使用的。除了5型電極外，不建議將電極用于平面材料以外材料。ASTM使用的其他電極或是買賣雙方都認(rèn)可但本表中未列出的其他電極也適于對(duì)測(cè)定材料進(jìn)行評(píng)測(cè)。

B電極通常采用黃銅或不銹鋼制造。應(yīng)參考控制被測(cè)材料的標(biāo)準(zhǔn)，以確定材料是否合適。

C電極表面應(yīng)拋光并清除上次測(cè)試留下的雜物。

D參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，以確定所安裝上側(cè)電極的負(fù)載力。除非另有說明，否則上側(cè)電極應(yīng)重50±2g。

E參考恰當(dāng)?shù)臉?biāo)準(zhǔn)，以確定適當(dāng)間距的梯度。

FIEC出版物243-1給出了6型電極，以測(cè)定平板材料。對(duì)于電極的同心度來說，他們沒有1型和2型電極那么重要。

G只要測(cè)試樣品圓形邊緣的內(nèi)側(cè)直徑大于15mm，也可使用其他直徑。

H7型電極，即注G中所描述的電極，由IEC出版物243-1給出，測(cè)量時(shí)應(yīng)平行與表面

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

6.1.3根據(jù)12.2，對(duì)可變低壓源的控制可以改變電源的壓力，使得合成的測(cè)試電壓流暢，均勻，沒有超量或是瞬變。在任何環(huán)境下，都不允許峰值電壓超過顯示電壓有效值的1.48倍。電機(jī)驅(qū)動(dòng)控制器更適合于進(jìn)行快速測(cè)試（參見12.2.1）或慢速測(cè)試（參見12.2.3)。

6.1.4在電源上安裝可以在三個(gè)周期內(nèi)運(yùn)行的切斷設(shè)備。該設(shè)備將電壓源設(shè)備與電源設(shè)備切斷，以保護(hù)電壓源不受試樣擊穿造成設(shè)備過載的影響。如果破裂后保持持續(xù)的電流，將造成測(cè)試樣品不必要的燃燒，電極的點(diǎn)蝕并污染液體環(huán)境介質(zhì)。

6.1.5斷路設(shè)備應(yīng)具有位于次級(jí)升壓變壓器上可以調(diào)節(jié)電流的檢測(cè)元件，以便根據(jù)測(cè)試樣的性質(zhì)進(jìn)行調(diào)整和排列，以檢測(cè)試驗(yàn)電流。設(shè)置檢測(cè)元件以應(yīng)對(duì)12.3所定義的測(cè)試樣擊穿電流。

6.1.6電流設(shè)置對(duì)測(cè)試結(jié)果具有重大影響。設(shè)置應(yīng)足夠高，使得短暫電壓，例如局部放電，無法通過斷路器，如果不夠高，將擊穿過度燃燒的測(cè)試樣，并造成電極的損壞。優(yōu)化的電流設(shè)置并不能適用于所有的測(cè)試樣，這有賴于材料的具體使用情況以及測(cè)試的目的，有必要以多個(gè)電流設(shè)置對(duì)所給測(cè)試樣進(jìn)行測(cè)試。電極區(qū)域?qū)﹄娏鞯脑O(shè)置選擇具有重大的影響。

6.1.7測(cè)試樣電流感應(yīng)元件應(yīng)位于升壓變壓器的前端。按測(cè)試樣電流校準(zhǔn)電流檢測(cè)刻度。

100KV無級(jí)調(diào)壓電壓擊穿測(cè)試儀

主要功能：
1、試驗(yàn)過程中可動(dòng)態(tài)繪制出試驗(yàn)曲線，試驗(yàn)的曲線可以多種顏色疊加對(duì)比。
2、可對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯修改，靈活適用；
3、試驗(yàn)條件及測(cè)試結(jié)果等數(shù)據(jù)可自動(dòng)存儲(chǔ)；
4、試驗(yàn)報(bào)告格式靈活可變，適用于不同用戶的不同需求；
5、可對(duì)一組試驗(yàn)中曲線數(shù)據(jù)的有效與否進(jìn)行人為選定；
6、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)可導(dǎo)入EXECL,WORD文檔編輯；
7、過電流保護(hù)裝置有足夠的靈敏度，能夠保證試樣擊穿時(shí)在0.1S內(nèi)切斷電源；
8、儀器運(yùn)行的持久性: 儀器可連續(xù)運(yùn)行使用，不需為保護(hù)儀器而定期停機(jī)。
9、軟件可以設(shè)置管理員與各個(gè)使用人員自己的參數(shù)和報(bào)告存儲(chǔ)權(quán)限.

設(shè)備安全保護(hù)功能：

1、設(shè)備要安裝單獨(dú)的保護(hù)地線，主要是減少試樣擊穿時(shí)對(duì)周圍產(chǎn)生的較強(qiáng)的電磁干擾。也可避免控制計(jì)算機(jī)失控。
2、直流試驗(yàn)放電報(bào)警功能:在設(shè)備做完直流試驗(yàn)時(shí),當(dāng)開啟試驗(yàn)門時(shí)設(shè)備會(huì)自動(dòng)報(bào)警,直至使用設(shè)備上的放電裝置放電后報(bào)警會(huì)自動(dòng)取消.
3、增配試驗(yàn)手動(dòng)放電裝置，隨主機(jī)為一體化，當(dāng)直流試驗(yàn)過程中突然斷電，可采用手動(dòng)放電棒進(jìn)行放電，保證試驗(yàn)人員的人身安全。
4、該試驗(yàn)設(shè)備的電路設(shè)有多項(xiàng)保護(hù)措施，主要有：過流保護(hù)、失壓保護(hù)、漏電保護(hù)、短路保護(hù)、直流試驗(yàn)放電保護(hù)等。

產(chǎn)品符合：
GB/T1695-2005硫化橡膠工頻電壓擊穿強(qiáng)度和耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)
GB/T 1408-2006 絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法
GB/T3333 電覽紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法
HG/T 3330絕緣漆漆膜擊穿強(qiáng)度測(cè)定法
GB12656 電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)方法及
ASTM D149 標(biāo)準(zhǔn)要求. 本標(biāo)準(zhǔn)適用于絕緣漆漆膜擊穿強(qiáng)度的測(cè)定,系在一定條件下,采用連續(xù)均勻升壓的方式對(duì)漆膜施加

交流電壓直至擊穿,擊穿電壓值與漆膜厚度之比為擊穿強(qiáng)度E,以千伏/毫米表示，GB 12656-1990.Determination of electric strength at power trequence for capacitor paper. GB 12656參照采用IEC 243- 1(1988)《固體絕緣材料電氣強(qiáng)度測(cè)試方法》。 1主題內(nèi)容 與適用范圍 GB 12656規(guī)定了工頻下測(cè)定電容器紙擊穿電壓的方法。 GB 12656適用于未浸漬電容器紙頁或其他類似的材料。 2引用標(biāo)準(zhǔn) GB450紙和紙板試樣的采取 GB 1408固體絕緣材料工頻電 氣強(qiáng)度的試驗(yàn)方法 3定義 3.1擊穿電壓breakdown voltage 在規(guī)定的試驗(yàn)條件下,用連續(xù)均勻升壓的方法對(duì)電容器紙施加工頻電壓,使紙樣發(fā)生擊穿時(shí)的電壓值. 3.2電氣強(qiáng)度electric stength 在規(guī)定的試驗(yàn)條件下,電容器紙?jiān)嚇影l(fā)生擊穿的電壓值除以施加電壓的兩電極之間紙樣的平均厚度。 4試驗(yàn)儀器 4.1工頻擊穿試驗(yàn)儀應(yīng)符合GB1408第5章試驗(yàn)設(shè)備的規(guī)定. 4.2電極 4.2.1電極材料 為黃銅。 4.2.2尺寸: 上電極φ25 mm,邊緣倒圓半徑r=2.5 mm; 下電極φ25mm,邊緣擊穿的判斷

12.1 在電擊穿的同時(shí)，回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開或熔絲燒

斷．但是有時(shí)也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路囂跳開．因此，斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配，否則，斷路器可能會(huì)在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在的條件下，也存在周圍媒質(zhì)先擊穿的情況也會(huì)發(fā)生。因此，在試驗(yàn)過程中要注意觀察和檢測(cè)這些現(xiàn)象，若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿，應(yīng)在報(bào)告中注明．

注：對(duì)漏電檢測(cè)電路敏感性特別重要的那些材料，在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說明。

12.2在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷，無論通道是否充有碳粒，當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道．

12.3當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)，要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效（見5.2）。可以通過檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來進(jìn)行鑒別，再次施加的電壓值應(yīng)小于弟一次施加的擊穿電壓值。試驗(yàn)證明，再次施加的電壓值為弟一次擊穿電壓值的50%比較合適，然后用 與弟一次試驗(yàn)相同的方法升壓直到破壞。

試驗(yàn)次數(shù)除非另有規(guī)定，通常應(yīng)做5次試驗(yàn)，取試驗(yàn)結(jié)果的中值作為電氣強(qiáng)度或擊穿電壓的值。如果任何一個(gè)試驗(yàn)結(jié)果偏離中值的15%以上，則另做5次試驗(yàn)。然后由10次試驗(yàn)的中值作為其電氣強(qiáng)度或擊穿電壓的值．當(dāng)試驗(yàn)并非用于例行的質(zhì)量控制時(shí)，必須做較多的試樣，具體的數(shù)量與材料的分散性和所用的統(tǒng)計(jì)分析方法有關(guān)。對(duì)并非用于例行的質(zhì)量控制試驗(yàn)．參見附錄A對(duì)決定需要試驗(yàn)次數(shù)和數(shù)據(jù)分析參考是有用的。在工業(yè)頻率下固體電氣絕緣材料的擊穿電壓和絕緣強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法1本標(biāo)準(zhǔn)是以固定代號(hào)D149發(fā)布的。其后的數(shù)字表示原文本正式通過的年號(hào)；在有修訂的情況下，為上一次的修訂年號(hào)；圓括號(hào)中數(shù)字為上一次重新確認(rèn)的年號(hào)。上標(biāo)符號(hào)（ε）表示對(duì)上次修改或重新確定的版本有編輯上的修改。

本標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)批準(zhǔn)被國防部機(jī)構(gòu)采用。耐電壓擊穿試驗(yàn)儀1. 范圍

1.1該試驗(yàn)方法覆蓋了在工業(yè)頻率下，即所規(guī)定的特定條件下，測(cè)定固體絕緣材料絕緣強(qiáng)度的流程。2，3

1.2除非另有說明，否則本測(cè)試的規(guī)定頻率為60Hz。但是，該測(cè)試方法同樣可以應(yīng)用于25到800Hz的條件下。如果頻率大于800Hz，那么將產(chǎn)生介質(zhì)加熱的問題。

1.3本測(cè)試方法將與其他ASTM標(biāo)準(zhǔn)或涉及該試驗(yàn)方法的其他標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合使用。本方法的參考文獻(xiàn)中將詳細(xì)說明所使用的具體標(biāo)準(zhǔn)（參見5.5）。

1.4本方法可以應(yīng)用于各種溫度，以及適宜的氣相或液相環(huán)境介質(zhì)。

1.5本方法不能用于測(cè)定在本測(cè)試條件下為液態(tài)的絕緣材料。

1.6本方法不能用于測(cè)定本征絕緣強(qiáng)度，直流電絕緣強(qiáng)度，或是電應(yīng)力條件下的熱失效（參考測(cè)試方法D3151）。

1.7本測(cè)試方法于測(cè)定擊穿電壓與試樣厚度的關(guān)系（擊穿）。也能測(cè)定擊穿電壓與固體試樣表面情況以及氣相或液相環(huán)境介質(zhì)的關(guān)系（閃絡(luò)）。如果加上第12條的修改說明，本測(cè)試方法還能用于驗(yàn)證試驗(yàn)。

1.8本測(cè)試方法與國際電工協(xié)會(huì)（IEC)出版的243-1標(biāo)準(zhǔn)類似。本方法中的所有流程包含在IEC 243-1標(biāo)準(zhǔn)中。本方法和IEC 243-1主要是在編輯上有所區(qū)別。

1.9本標(biāo)準(zhǔn)并沒有列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行斟酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全和健康要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。具體的危害將在第7部分中闡述。也可以參見6.4.1節(jié)。