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蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730

[產品簡介]

作為VersaXRM系列中的前沿產品，蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730 在科學探索和工業研究領域為您開啟了多樣化應用的新高度。

采用光學和幾何兩級放大成像架構，可實現大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現高襯度和增強的相位襯度成像。基于出色的高分辨率和襯度，蔡司X射線顯微鏡VersaXRM 615 & 730拓展了無損成像的研究界限，大大提高了研究靈活性，加快您的研究進展。創新的數據采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現對搜索和發現的感興趣區域進行高分辨成像，實現從探索到發現的工作流無縫銜接。全系列的VersaXRM系統都支持快速掃面模式FAST Mode擴展，可實現1分鐘內快速三維掃描成像；同時兩款產品均兼容ART高級重構工具箱，利用AI技術提高成像效率或改善成像質量。

[產品特點]

三維無損成像

真實空間分辨率: 500nm@ VersaXRM 615, 450 nm@VersaXRM 730，最小體素40nm

更快的成像速度

特別的大工作距離下高分辨率，可實現不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像

吸收、相位和衍射襯度成像模式

4D 原位成像能力

可升級和拓展

利用AI技術提高成像效率或改善成像質量

[應用領域]

ü                      材料科學，如三維無損分析

ü                      生命科學，如微觀結構成像

ü                      地球科學，如地質、油氣、礦產、古生物等三維成像

ü                      電子和半導體行業，如形貌測量及失效分析

ü                      原位力學、變溫試驗

ü                      衍射襯度成像，實現三維晶粒取向分析

復合材料                                                    電子半導體                                               生命科學（腦神經）

古生物                                                                油氣地質（致密砂巖）