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　　紅外光譜儀是利用物質對不同波長的紅外輻射的吸收特性，進行分子結構和化學組成分析的儀器。紅外光譜儀通常由光源，單色器，探測器和計算機處理信息系統組成。根據分光裝置的不同，分為色散型和干涉型。由于色散型很少使用，目前廣泛使用的是干涉型的傅里葉變換紅外光譜儀。

　　用紅外光譜法研究高分子材料時，影響頻率位移和圖譜質量的因素有哪些？

　　A：

　　1、影響頻率位移的因素

　　①外部因素

　　物理狀態的影響：同一個樣品不同相態(氣、液、固)，它們的光譜有很大差別，這與分子間相互作用力有關；

　　溶劑的影響：同一物質在不同的溶劑中，由于溶質與溶劑的相互作用不同，因此測得的光譜吸收帶頻率也不同；

　　粒度的影響：主要由散射引起。粒度越大，基線上升，峰寬而強度低，反之亦然；

　　②內部因素

　　主要是分子內部結構的原因引起的變化：如誘導效應、共軛效應、鍵應力和空間效應、氫鍵效應、耦合效應、費米共振。

　　2、影響圖譜質量的因素

　　①儀器參數的影響

　　光通量、增益、掃描次數等直接影響信噪比，同時要根據不同的附件及測試要求及時進行必要的調整，以得到滿意的譜圖。

　　②環境的影響

　　光譜中的吸收帶并非都是由光譜本身產生的，潮濕的空氣、樣品的污染、殘留溶劑、由瑪瑙研缽或玻璃器皿所帶入的二氧化硅、溴化鉀壓片時吸附的水等原因均可產生附加的吸收帶，故在光譜解析時應特別加以注意。

　　③樣品厚度的影響

　　樣品的厚度或合適的樣品量是很重要的，通常要求厚度為10～50μm，對于極性物質如聚酯要求厚度小一些，對非極性物質如聚烯烴要求厚一些。有時為了觀察弱吸收帶，如某些含量少的基團、端基、側鏈，少量共聚組分等，應該用較厚的樣品測定光譜，若用KBr壓片法用量也應作相應的調整。