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電學(xué)性能測(cè)試

閱讀:950      發(fā)布時(shí)間:2024-1-4
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微型探針臺(tái)是一種可以在不同溫度下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)試的設(shè)備,它有多種類型和應(yīng)用,主要用于科學(xué)研究和教育實(shí)驗(yàn)。微型探針臺(tái)的工作原理是通過(guò)探針與樣品接觸,形成電路,然后通過(guò)電學(xué)儀表測(cè)量樣品的電阻、電容、電流、電壓等參數(shù),從而分析材料的特性。微型探針臺(tái)可以測(cè)試不同尺寸和形狀的樣品,例如晶圓、芯片、封裝器件、光電器件、材料片等。微型探針臺(tái)是一種高精度、高效率、高靈活性的測(cè)試設(shè)備,對(duì)于推動(dòng)材料科學(xué)和半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展有重要作用。

優(yōu)點(diǎn):


體積小,便于搬運(yùn)和安裝。


精度高,能夠?qū)ξ⒚准?jí)的樣品進(jìn)行精確的測(cè)試。


操作方便,只需通過(guò)探針與樣品接觸,即可進(jìn)行電學(xué)性能測(cè)試。


靈活性高,能夠適應(yīng)不同的測(cè)試環(huán)境和測(cè)試需求,例如高低溫、高頻、光電等。

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