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EM238-SASY EM238 SASY探測器Sens-Tech
普索貿易
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EM238-SASY EM238 SASY探測器Sens-Tech
英國Sens-Tech公司——X射線和弱光探測系統
英國Sens-Tech公司的前身是有名的EMI公司，是X射線探測器、信號數據采集系統和光電倍增管模塊產品的專業供應商，在光電探測領域擁有豐富的成功經驗。Sens-Tech的產品集信號探測、模擬信號放大、數字輸出于一體，有多種控制功能可供選擇，可方便地與計算機連接，實現圖像或信號的數字化處理。
應用領域：
行李箱包檢測
食品檢測
高能射線探測
數字醫療成像
鋼板測厚
無損檢測
輪胎檢測 X-ray Detection Systems
Sens-tech EM217
Sens-tech EM238
Sens-tech EM195
Sens-tech EM238-SASY
Sens-tech EM195-SASY
我們還做一下產品：
PMA TB40-110-00090-U01
ABB PMSK115 3BSE007999R1
IPF PS18C715
IPF PE18C71
IPF PS18C715
IPF PS18C714
IPF PE18C715
IPF PS18C714
INGUN KS-113 30 M2-R-S
INGUN KK541 400 FC 1410 M2 3S05 A
EATON FG-02-300-50-S10
EATON SV3-10-C-0-24DG
EATON KBFDG5V-8-33C375N-X-M1-PE7-H4
EATON DGFN-06-50
EATON DGPC-06-AB-51
EATON DGX-06-2F-60
EATON DG5S-8-6C-T-M-U-H5-30
EATON SV3-10-0-00-24VDC
MAXCESS SE-26
EGE IGMF 05
K-PATENTS 58PR9004
MAXIMATOR L 250-2VES
MAXIMATOR G 150-2VES
MAXIMATOR 65V4H872-YHNC
MAXIMATOR 650C6H
MAXIMATOR 65V4H882
MAXIMATOR 65V4H872
flucom DPC 30/T-N
flucom LPA30/D-200(LPA30/D-N)
EATON RV3-10-S-0-3/
E+H FTI56-AAY9YY943A2A
DUFF-NORTON SRDEK 1860
DUFF-NORTON SRDEK 1834
DUFF-NORTON SRDEK 1821
Baumer UNAM 12P19/405689 SD10-45MM 405689 SD10-45MM
DOLD Safemaster STS 0062254
X射線探測器中重要的系統參數便是能量分辨率，能量分辨率反映了探測器對不同類型的入射粒子的能量分辨能力。能量分辨率越小，則表示探測器可區分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為、相對分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬（FWHM）來表示的被稱為分辨率；而相對分辨率則是使用分辨率與峰位的比值來表示。
探測器的能量分辨率受諸多因素的影響，如：探測器的有效探測面積、探測元器件類型、甑別和計數器能力、后續處理電路時間常數等。在此時間常數通常指脈沖處理器所耗費時間，也就是是射線從進入探測器后，其測量并處理能量所需時長。探測器分辨率與其時間常數、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關聯，即：面積大小與分辨率高低成反比；當面積不變時，時間常數與光子測量準確度同時增加時，其分辨效果越好[5]。由此不難看出，時間常數是影響分析效率與能量分辨率的重要因素，然而兩者卻無法同一，因此從儀器實用層面出發，必須讓分辨率與靈敏度兼顧。
X射線探測器中重要的系統參數便是能量分辨率，能量分辨率反映了探測器對不同類型的入射粒子的能量分辨能力。能量分辨率越小，則表示探測器可區分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為、相對分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬（FWHM）來表示的被稱為分辨率；而相對分辨率則是使用分辨率與峰位的比值來表示。
探測器的能量分辨率受諸多因素的影響，如：探測器的有效探測面積、探測元器件類型、甑別和計數器能力、后續處理電路時間常數等。在此時間常數通常指脈沖處理器所耗費時間，也就是是射線從進入探測器后，其測量并處理能量所需時長。探測器分辨率與其時間常數、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關聯，即：面積大小與分辨率高低成反比；當面積不變時，時間常數與光子測量準確度同時增加時，其分辨效果越好[5]。由此不難看出，時間常數是影響分析效率與能量分辨率的重要因素，然而兩者卻無法同一，因此從儀器實用層面出發，必須讓分辨率與靈敏度兼顧。
X射線探測器中重要的系統參數便是能量分辨率，能量分辨率反映了探測器對不同類型的入射粒子的能量分辨能力。能量分辨率越小，則表示探測器可區分更小的能量差別。通常我們將能量分辨率分為、相對分辨率兩種類型。以能量高斯分布的半高寬（FWHM）來表示的被稱為分辨率；而相對分辨率則是使用分辨率與峰位的比值來表示。
探測器的能量分辨率受諸多因素的影響，如：探測器的有效探測面積、探測元器件類型、甑別和計數器能力、后續處理電路時間常數等。在此時間常數通常指脈沖處理器所耗費時間，也就是是射線從進入探測器后，其測量并處理能量所需時長。探測器分辨率與其時間常數、面積、分析效率幾者之間有著明晰的關聯，即：面積大小與分辨率高低成反比；當面積不變時，時間常數與光子測量準確度同時增加時，其分辨效果越好[5]。由此不難看出，時間常數是影響分析效率與能量分辨率的重要因素，然而兩者卻無法同一，因此從儀器實用層面出發，必須讓分辨率與靈敏度兼顧。
