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HEKA-掃描離子電導顯微鏡 SICM
  • HEKA-掃描離子電導顯微鏡 SICM
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貨物所在地:北京北京市

地: 德國

更新時間:2024-06-20 18:20:12

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掃描離子電導顯微鏡 SICM屬于掃描探針顯微鏡,它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術, SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息,并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。

掃描離子電導顯微鏡 SICM屬于掃描探針顯微鏡,它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別于其他掃描探針顯微技術, SICM能夠在樣品表面非接觸的條件下獲取樣品表面形貌特性信息,并且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。

掃描離子電導顯微鏡 SICM(Scanning Ion Conductance Microscopy, SICM)
1、探針是一根中空的超微玻璃管,針尖為錐形,針尖內徑約幾十到幾百納米;
2、在探針內外均灌有電解質溶液,并各放置一根電極,在電極的兩端通上電壓就會在溶液中產生離子電流;
3、當針尖與樣品距離較遠時,電流值的大小保持恒定,而當探針與樣品的距離減小到約為探針內徑時,狹小的針尖/樣品空間就會限制離子通過,離子電流急速減小;
4、根據探針/樣品間距離與離子電流的關系,一個設定的電流值就代表了探針與樣品間一個固定的距離,讓探針在樣品表面以一定的路線移動掃描,控制器控制電流保持恒定以保證針尖與樣品始終保持同樣的距離,掃描完成后記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表面形貌。


 

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