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SECM掃描探針顯微鏡系統組件與功能介紹

閱讀:2097      發布時間:2021-2-25
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SECM掃描探針顯微鏡是一套多功能的SPM掃描探針顯微鏡系統,還可以集成SICM,SECCM等多功能。電化學/電生理掃描探針顯微鏡SECM具備掃描電化學顯微鏡及掃描離子電導顯微鏡成像(SECM/ SICM)與可定制模塊化的光學顯微鏡成像同步聯用的系統。

SECM掃描探針顯微鏡系統組件與功能介紹:


1、機械掃描四軸納米定位系統(模塊):


1)X/Y/Z 三軸掃描探針定位系統:閉環電路控制的直流伺服XYZ馬達臺疊加Z-軸壓電驅動系統,XYZ馬達臺具備掃描分辨率≤10nm,馬達掃描軸大動態掃描范圍不小于X=100mm, Y=75mm, Z=50mm;Z-軸配備的納米分辨率壓電驅動系統具備步進分辨率≤1.5納米。掃描系統具備探針與樣品共掃描模式,Z-軸可快速完成長距離下的全自動探針逼近過程。


2)系統具備X/Y/Z/F 四維亞微米便攜式獨立遙控桿,具有慢速和長距離/快速雙模式。


3) XY掃描軸可擴展移動定位范圍,具備手動調節旋鈕可額外擴展 X/Y定位范圍至不少于±12.5 mm。


2、系統無縫集成的微觀光學顯微鏡成像系統(模塊):


1)核心光學組件倒置集成于XY樣品臺的正下方,光學成像對焦由電動馬達自動聚焦驅動器(分辨率≤5.5nm,對焦移動范圍≥5厘米),光學對焦位置可進行數字式調節和記錄。


2)?光學成像光路具備模塊化顯微鏡光路設計,核心組件具備臨界照明的落射熒光光學元件,光導耦合器,及用戶可自由調節的濾光片立方體和用于連接像機的C型接口適配器。


3)?倒置顯微鏡須配備6孔位物鏡盤,系統配置的物鏡須具有長工作距離的熒光級物鏡,放大倍數至少為4x, 20x和40x。


4)被觀測樣品的光學照片及視頻可由系統相機進行實時采集,激發控制模式支持預設、內部同步、曝光激發、連續曝光模式。


5)光學系統兼容升級接入無縫集成的LED熒光激發光源系統,熒光濾波片組及超高速熒光CCD相機。

 




 

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