FMU30系列新款推出E+H超聲波物位計
E+H一體式超聲波物位計是專業(yè)制造的通用型超聲波物位計，它博采眾長，吸取了國內(nèi)外多種物位儀優(yōu)點，實現(xiàn)了全數(shù)字化，人性化設計理念，具有完善的物/液位測控·數(shù)據(jù)傳輸和人機交流功能。主芯片采用進口工業(yè)級單片機，數(shù)字溫度補償和超寬電壓輸入穩(wěn)壓等數(shù)十塊相關集成電路。具有抗干擾性強，可任意設置上下限節(jié)點及在線輸出調(diào)節(jié)，并帶有現(xiàn)場顯示，可選擇模擬量，開關量及RS485輸出，方便的與相關設施接口。它不必接觸工業(yè)介質(zhì)就能滿足大部分物位測量要求，從而*地解決了壓力式、電容式、浮子式等傳統(tǒng)測量方式帶來的纏繞、堵塞、泄露、介質(zhì)腐蝕、維護不便等缺點。
恩德斯豪斯超聲波物位計主要的安裝方式有兩種，一個是頂部安裝，一個是底部安裝，超聲波物位計采用的也是液體導聲，超聲探頭安裝在料罐底部外，超聲波從底部傳入，經(jīng)被測液體傳播到液面，反射后傳回探頭。傳播時間與液位的高低成正比。
微波物位計以光速傳播，速度幾乎不受介質(zhì)特性的影響，傳播衰減也很小，約0.2dB/km.回波信號強弱很大程度上取決于被測液面上的反射情況。在被測液面上的反射率除了取決于被測物料的面積和形狀外，主要取決于物料的相對介電常數(shù)εr.相對介電常數(shù)高，反射率也高，得到的回波強度高;相對介電常數(shù)低，物料會吸收部分微波能量，回波強度較低。
超聲波物位計的應用概況
在現(xiàn)場實際運用時，會有各種因素對其穩(wěn)定、可靠的測量產(chǎn)生影響，下面我們將結合實際，講述各種干擾對超聲波物位計選用、使用、安裝的影響。超聲波流量計
(1)介質(zhì)及環(huán)境溫度的影響
超聲波從物料表面反射時，其反射頻率會受到物料溫度的影響而發(fā)生變化，為了補償這一變化，超聲波探頭內(nèi)裝有溫度傳感器，當探頭向處理器發(fā)送反射信號的同時，也把溫度信號送到微處理器，處理器將自動補償由于溫度對料位測量的影響。
此外，為了保證探頭的可靠工作，要求環(huán)境溫度不超過60℃。
(2)攪拌器對物位計測量的影響
如果物料容器內(nèi)裝攪拌器，它同樣會反射超聲波信號，造成假反射回波，并被傳送到微處理器。微處理器將根據(jù)統(tǒng)計學原理處理真假面具回波，所以要求超聲波從物料表面反射的回波應至少為從攪拌器臂反射的回波的3倍。適當降低攪拌器的轉速，或將探頭偏離攪拌中心，都可以有效消除攪拌器產(chǎn)生的假面反射對料位測量的影響。
應用Prosonic T 適用于對液體及顆粒料位進行非接觸式連續(xù)物位測量的一體化儀表。有兩種不同測量范圍的變送器可供選擇。
安裝指導·安裝探頭時，應保證zui高物位在盲區(qū)以下，探頭端面應伸入罐內(nèi)。(加安裝管時例外)
·注意安裝角探頭應與物面垂直避開加料扇區(qū)
·不可在一個罐內(nèi)同時安裝兩個Prosonic T
·不能將探頭安裝于罐中心
德國E+H（endress hauser）超聲波物位計FMU30-1020/0加接管安裝
·若被測高位位于盲區(qū)范圍，一體化超聲波探頭必須安裝在加接管上。
·加接管上避免形成冷凝和粘結。
·加接管內(nèi)表面盡可能光滑(無焊縫和接縫)。
·加接管長度可變，但要受到限制，加接管直徑同樣有一定要求。
加接管安裝
·若被測高位位于盲區(qū)范圍，一體化超聲波探頭必須安裝在加接管上。
·加接管上避免形成冷凝和粘結。
·加接管內(nèi)表面盡可能光滑(無焊縫和接縫)。
·加接管長度可變，但要受到限制，加接管直徑同樣有一定要求。
FMU30-1020/0干擾抑制：固定目標抑制功能可以對內(nèi)罐設施引起的干擾回波進行校正，剔除。從探頭發(fā)出的脈沖聲波在其傳播過程中不斷發(fā)散，所有位于其傳播通道中的物體皆都引發(fā)干擾回波。
盲區(qū)：探頭聲波的起振周期決定了探頭表面下的某一區(qū)域的回波無法檢測到，這便是盲區(qū)，它決定了探頭和zui高物位的zui小間距。(參見技術參數(shù)) FMU30系列新款推出E+H超聲波物位計