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E+H雷達物位計FMP51系列產品特點
FMP51系列E+H雷達物位計適用于過程工業工況下的液位測量，如高溫、高壓等場合。即使液面出現波動、產生泡沫或當儲罐內有障礙物產生干擾時，FMP51也能保持穩定的測量值。LevelflexFMP51用于液體、漿料和泥漿的連續物位測量以及界面測量。測量值不受介質變化、溫度變化、氣體覆蓋或蒸汽的影響。
FMP51優勢:
即使在多變的測量產品或過程條件下，依然保持可靠測量
HistoROM集成數據存儲單元，帶來快速便捷的調試、維修和診斷
多回波追蹤創新技術，為測量結果帶來高度可靠性
硬件與軟件根據IEC61508標準開發，達到SIL3級別
心跳技術，在整個生命周期內實現、安全的工廠運營
無縫集成到控制或資產管理系統，直觀的引導式操作概念（現場或通過控制系統）
通過世界的SIL和WHG實驗認證，節約您的時間與經濟成本
FMP51應用領域:
可選擇桿式、纜式或同軸桿測量。
過程連接：始于?"螺紋或法蘭
溫度：-40到+200°C(-40到+392°F)
壓力：-1到+40bar(-14.5到+580psi)
大測量范圍：桿式10m(33ft),纜式45m(148ft),同軸桿6m(20ft)
精度誤差：±2mm(0.08")
防爆保護認證，WHG溢出保護，SIL，船用認證，5-點線性協議
FMP51系列特征和規格:
測量原理:導波雷達
特點/應用:Premium精度的設備
桿式探頭、纜式探頭、同軸探頭
內置數據存儲單元，出廠預標定，可靠測量：波動液面+泡沫，變化介質
界面測量:清晰的液/液界面；
同時測量界面和總液面高度
調頻連續波雷達物位計在測量過程中應用了按照線性變化的高頻信號（~10GHz），雷達物位計的信號從天線發出，在被測量平面反射，回波被天線接收。雷達物位計信號的發出與回波接收的頻率差被用于進一步的信號處理，頻率差對應于測量距離。一個大的頻率差應對于一個較大的測量距離。通過FFT頻率差被轉化為頻譜差，進而換算出測量距離。物位與測量距離的差別取決于空罐的高度。
  發射能量很低的極短的微波脈沖通過天線系統發射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內穩定和的測量。
即使工況比較復雜的情況下，存在虛假回波，用的微處理技術和調試軟件也可以準確的分析出物位的回波。輸入天線接收反射的微波脈沖并將其傳輸給電子線路，微處理器對此信號進行處理，識別出微脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號識別由智能軟件完成，精度可達到毫米級。距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比： 
  D=C×T/2 
  其中C為光速 
  因空罐的距離E已知，則物位L為： 
  L=E-D 
  輸出 
  通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數來設定，應用參數將 
  自動使儀表適應測量環境。 
  對應于4－20mA輸出。 雷達物位計適用于對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續測量，適用于溫度、壓力變化大；有惰性氣體及揮發存在的場合。E+H雷達物位計FMP51系列產品特點