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HORIBA 納米顆粒分析儀
以先進的技術簡單而*確地呈現納米粒子尺寸及分散體系的穩定性，為您開啟納米科技前進之門！
納米技術的研發是一個持續不斷的過程，在分子和原子水平上控制物質 以獲得更新、更好、更先進的材料和產品。 為了得到效率更高性能更好的產品，并減少能量的消耗，
簡單操作即可對納米顆粒進行多參數分析！
粒徑測量范圍 0.3nm ~ 10μm
SZ-100V2系列采用動態光散射原理(DLS)測量粒徑大小及分布，實現了超寬濃度范圍的樣品測量， 不論濃度是 ppm 級還是高達百分之幾十，均可準確測量。可使用市售樣品池。測量微量樣品也極 為方便。
Zeta 電位測量范圍 −500 ~ +500mV
使用 HORIBA *創的微量樣品池，樣品量僅需 100 µL。通過 Zeta 電位值可以預測及控制分散體系的穩定性。 Zeta 電位越高意味著分散體系越穩定，對于配方研究工作意義重大。
分子測量范圍 1×103 ~ 2×107
通過測量不同濃度樣品的靜態散射強度并通過德拜記點法計算分子質量 (Mw) 和第二維利系數 (A2)。
SZ-100V2 系列超高的智能化和學習能力可以快速為您確定納米粒子的特性！
● SZ-100V2 系列可測量的樣品濃度范圍很廣，所以幾乎無需對樣品進行稀釋和其他處理。*的雙光路系統 (90°和 173° ) 設計，既能對高濃度樣品進行測量，如 釉漿和顏料，也能測量低濃度樣品，如蛋白質和聚合物。
● 將表征納米粒子的三大參數的測量融于一體：粒子直徑、Zeta 電位和分子量。
● HORIBA 開發的一次性 Zeta 電位測量樣品池可杜絕樣品污染。超微量樣品池 ( 小容量 100 µL) 簡單易用，且適合分析稀釋的樣品。
● HORIBA 研發的 Zeta 電位石墨電極，可用于測量強腐蝕性的高鹽樣品。
HORIBA 納米顆粒分析儀
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