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型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。 
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm 
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。 
SDD探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

中山鍍層膜厚檢測(cè)儀器天瑞公司直銷

瑞Thick800A具如下特點(diǎn)：

1. 高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；

2. 采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求；

3. φ0.2mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求；

4. 定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊；

5. 鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)；

6. 高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)，微小測(cè)試點(diǎn)更精確；

7.X射線鍍層測(cè)厚儀廠家優(yōu)勢(shì)在于滿足客戶要求的情況下，價(jià)格更優(yōu)惠、售后服務(wù)更方便，維護(hù)成本更低。