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天瑞X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

    天瑞X射線熒光光譜儀分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。
   
天瑞X射線熒光光譜儀特點：
    分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；
    熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；
    分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級，輕元素稍差；
    分析樣品不被破壞，分析快速，準確，便于自動化。

天瑞X射線熒光光譜儀指標信息
    1.發射源是Rh靶X光管，zui大電流125mA，電壓60kV，zui大功率3kW
    2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals
    3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～100%
    4.分析軟件是Philips公司（現為PANalytical）版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計算率N=1483870時，RSD=0.08% 穩定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%