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目錄:百瑞科技(南京)有限公司>>空壓機>>實驗室空壓機>> Flairmo A200.25AS高低溫沖擊熱流儀配套空壓機

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機
  • 高低溫沖擊熱流儀配套空壓機
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
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具體成交價以合同協議為準
  • 品牌 其他品牌
  • 型號 Flairmo A200.25AS
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 南京市
屬性

產地類別:進口 應用領域:綜合

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更新時間:2024-05-12 04:45:48瀏覽次數:892評價

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產地類別 進口 應用領域 綜合
高低溫沖擊熱流儀配套空壓機
熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試,電源管理芯片由于多是在狹小空間內工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環境中長時間工作, 電源芯片經常經歷快速升溫的情況, 甚至經歷在電壓不穩時快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時需要經過測試芯片在快速變溫過程中的穩定性, 這點十分重要.

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機


2010年Flairmo實驗室空壓機問世,基于在氣體制造及純化技術上建立起來的強大技術團隊和知識背景,Flairmo 不斷開展對空氣分離技術的開發及創造性研究工作,現已成功發展成為現今世界上重要的氣體發生器制造商之一。公司總部設在丹麥奧爾堡。10多年來Flairmo一直從事壓縮機和氮氣發生器的制造,產品滿足各類實驗室、科學儀器對高純氫氣、高純氮氣、零級空氣、大流量氮氣等氣體的需求,涉及實驗室,食品,工業等各個行業。

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機

A200.25AS無油壓縮機系統,因靜音低振動和體積小,外觀迷人時尚,匹配實驗室設備。其節省空間的設計非常適合放在實驗臺下面,而且消音柜可充分降低噪音。空壓機配置吸干機,壓力露點低至-60℃以上,尤其適合超低溫樣本存儲干燥用氣需求

壓縮空氣規范

· 工作壓力10巴(145 psi)

· 壓力露點可低至-70℃ (實測7bar壓力露點達-78℃)

· 空氣質量符合ISO 8573-1 1:1:1級標準

運行環境要求

· 相對濕度高達95%

· 工作溫度范圍:5℃~40℃(41°F~104°F)

可選配裝置

· 吸附式干燥機

· 冷凍干燥器

· 0.01μm除菌過濾器

· 活性炭過濾器

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機 – 顯而易見的所有優勢

· 超級靜音 55~57db

· 低振動

· 體積小,可安置于實驗室工作臺下方

· 設計新穎

· 氣動快速連接插口,即插即用

· 可調式出口管壓力,可輕松將所需壓力設為高達8巴(116 psi)

· 除菌過濾器(可選裝置),過濾粒度0.01 μm

· 活性炭過濾器(可選裝置),可消除壓縮空氣中的異味和其他雜質

· 穩定性 – 負荷下仍能持續平穩運行

· 全自動冷凝蒸發器– 取代人工排水

· 超長使用壽命

· 負載下連續工作的吸附干燥器(可選裝置)

· 免維護 – 過濾器更換方便快速

實驗室應用領域

· 自動進樣器

· 氮氣發生器

· 空氣發生器

· 實驗室檢測設備

· 實驗室自動化

· 自動揀選系統


高低溫沖擊熱流儀配套空壓機

高低溫沖擊熱流儀配套空壓機

熱流儀電源管理芯片高低溫沖擊測試,電源管理芯片由于多是在狹小空間內工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環境中長時間工作, 電源芯片經常經歷快速升溫的情況, 甚至經歷在電壓不穩時快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時需要經過測試芯片在快速變溫過程中的穩定性, 這點十分重要.電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits 是在電子設備系統中擔負起對電能的變換, 分配, 檢測及其他電能管理職責的芯片. 在電源的設計中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運轉, 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會變高. 因此在芯片的設計之初就要考慮溫度問題.

與傳統高低溫試驗箱對比, 熱流儀主要優勢:
1. 變溫速率更快, 每秒可快速升溫/降溫 15 °C
2. 溫控精度: ±1℃
3. 實時監測待測元件真實溫度,可隨時調整沖擊氣流溫度
4. 針對 PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊), 可單獨進行高低溫沖擊, 而不影響周邊其它器件
5. 對測試機平臺 load board上 的 IC 進行溫度循環 / 沖擊; 傳統高低溫箱無法針對此類測試
6. 對整塊集成電路板提供準確且快速的環境溫度

高低溫沖擊熱流儀, 溫度沖擊范圍 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防靜電設計, 不需要 LN2 或 LCO2 冷卻, 溫度顯示精度: ±1℃, 通過 NIST 校準. 通過 ISO 9001, CE, RoHS 認證.  熱流儀提供適用于 RF 射頻, 微波, 電子, 功率器件, 通信芯片等溫度測試, 滿足芯片特性和故障分析的需求.


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