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產品簡介
生物膜層納米厚度測量儀經濟適用的反射式測試系統F3系統通過采集膜層的反射光譜曲線，進而分析薄膜厚度及光學常數，可選配F3型號的不同系列，來滿足不同的厚度和光學常數測試需求。其通用型號配置40,000小時適用壽命的光源及自動波長校準，大大增強了系統的穩定性。F3型號有四種波長范圍的系列，可以覆蓋光譜波長范圍從190納米至1700納米。 快速厚度測試升級厚度測試軟件升級許可后，厚度值將在測試數據結果中
詳細介紹
生物膜層納米厚度測量儀
經濟適用的反射式測試系統
F3系統通過采集膜層的反射光譜曲線，進而分析薄膜厚度及光學常數，可選配F3型號的不同系列，來滿足不同的厚度和光學常數測試需求。其通用型號配置40,000小時適用壽命的光源及自動波長校準，大大增強了系統的穩定性。F3型號有四種波長范圍的系列，可以覆蓋光譜波長范圍從190納米至1700納米。
快速厚度測試
升級厚度測試軟件升級許可后，厚度值將在測試數據結果中直觀的顯示。同時軟件中也存入了許多常用的介質材料及半導體層的材料信息。
光學常數測試功能（n 和 k）
對于更高測試要求用戶， 只需要升級光學常數軟件升級包即可在短時間內測試材料的折射率和消光系數
生物膜層納米厚度測量儀
相關應用 |
光學鍍層 |
硬涂層/抗發射層/濾光層 |
生物醫學 |
聚對二甲苯/生物膜層/硝化纖維 |
液晶顯示器 |
盒厚/聚酰亞胺/ITO |
半導體制造 |
光刻膠/氧化物/氮化物 |
