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產品簡介
詳細介紹
名 稱：激光干涉儀
型 號：SDI-635-25PV
品 牌：晟鼎
隨著光通訊行業的飛速發展，特別是通訊行業手機、平板等對成像質量要求的不斷提高，必須對手機面板攝像孔的光學玻璃的透射波前進行檢測和分析。
光學玻璃的透射波前是指一個標準的波形（平面波、球面波等）被透射或反射后的波形，它主要用于光學成像的像質評價。隨著透射光學系統（如手機平板等攝像系統等）的成像質量要求越來越高，迫切需要高精度的光學玻璃透射波前的檢測手段。高精度的檢測方法主要是用干涉儀檢測波前畸變。
其工作原理是將待測手機平板放于干涉儀的參考平面鏡和標準反射鏡中間，從標準參考鏡反射的光和標準反射鏡的光相干涉。干涉條紋則反映了手機面板攝像孔透射波前的好壞。
硬件部分
產品型號 | SDI-635-25PV |
產品名稱 | 激光干涉儀 |
測試結構 | 斐索型立式結構 |
測試口徑 | 有效口徑Ф10mm |
測試光源 | 半導體激光光源（波長635nm） |
對準視場 | ±0.5度 |
標準鏡面形精度 | λ/20 |
標準配件 | 1、干涉儀主機一臺 |
設備重量 | 約16KG |
電源 | AC220V50HZ |
干涉儀軟件部分
軟件名稱 | 移相算法 |
分析項目 | 透過波前PV值、RMS值、干涉條紋數 |
PV值測試重復性 | ±0.039λ |
條紋數測試精度 | ±0.5條 |
測試時間 | 1.5秒 |
測試數據 | 可存EXECL |
檢測指標的簡單說明：
PV值在數學上的定義是峰谷值( Peak to Valley),即大值和小值的差值。單位是λ(波長)。對應到干涉儀透射檢測上，就是被檢元件的厚度差。
RMS值在數學上的定義是均方根值(root-mean-square)，單位是λ(波長),這是一個統計值，RMS的大小反映了這些數據值的離散程度。對應到干涉儀透射檢測上，RMS值越小表明被檢元件的厚度平滑性越好，高低起伏越少。
條紋根數是肉眼可見的被檢元件厚度差的直觀表現，與PV值成線性關系。條紋根數越少表明被檢元件的厚度差越小。
售后服務：
1、廠家貨源*
貨源有保障，可以根據客戶不同測試需求，提供不同測試方案。
2、關于售后
4小時電話響應，24小時內安排*。終生維護。
3、關于發貨
到款4-5天內到貨，江蘇、深圳區域第二天可以到貨。