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[供應]F10-ARc-光學薄膜納米厚度測量儀
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  • F10-ARc-光學薄膜納米厚度測量儀
貨物所在地:
江蘇蘇州市
更新時間:
2024-01-22 21:00:05
有效期:
2024年1月22日 -- 2024年7月22日
已獲點擊:
305
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(聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

產(chǎn)品簡介

光學薄膜納米厚度測量儀操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測Filmetrics F10-ARc使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便。現(xiàn)在,不論生產(chǎn)線操作人員還是研發(fā)技術人員都能在幾秒鐘內(nèi)檢測和記錄涂層情況。多重光譜比較目標光譜與多重反射光譜比較–自動評估反射率,小/大位置,并得出明確的讀數(shù)結論。量化殘余顏色殘余顏色可以用基本的色彩空間系統(tǒng)形象化的顯示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。

詳細介紹

光學薄膜納米厚度測量儀

操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測

Filmetrics F10-ARc使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便。現(xiàn)在,不論生產(chǎn)線操作人員還是研發(fā)技術人員都能在幾秒鐘內(nèi)檢測和記錄涂層情況。

多重光譜比較

目標光譜與多重反射光譜比較–自動評估反射率,小/大位置,并得出明確的讀數(shù)結論。

量化殘余顏色

殘余顏色可以用基本的色彩空間系統(tǒng)形象化的顯示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。

使用Hardcoat Upgrade軟件升級許可來測試厚度

可選配的Filmetrics FFT算法已經(jīng)在*眾多的硬涂層測試應用中使用。單擊鼠標即可同事測量硬涂層和底漆層厚度。

光學薄膜納米厚度測量儀操作非常簡單

只需要將F10-ARc用一根USB線連接到電腦上,就可以做后面的測試。基于Filmetrics的技術,F(xiàn)10-ARc不需要像其他光譜儀那樣需要做諸多校準,比如積分時間校準、基準校準,并且擁有使用壽命達到40000個小時的光源和自動波長校準,無需保養(yǎng)而且測試非常可靠。

光譜儀

波長范圍:

380 - 1050 nm

波長準確度:

< 0.5 nm

波長可重復性:

0.1 nm

R < RStd 1時精度:                                         0.01* RStd

1

Std

R > RStd 1時精度:                              0.01 * Rmax / RStd

1

噪音:

< 0.0002 A rms

雜散光:

500 nm< 0.25%

厚度 (需選配Hardcoat upgrade軟件升級包)

測量范圍2,3

0.2 - 15 μm

準確度:                            厚度的0.2%0.01 μm較大者

精度4

好于0.001 μm

基本要求

探頭光斑尺寸:

100 μm

光源使用壽命

內(nèi)置40000小時

電源要求:

2W, USB-supplied

電腦要求

處理器速度:

1 GHz min

接口:

USB 1.0 (推薦USB2.0)

操作系統(tǒng)

PC:

Windows XP(SP2) - Windows 8(64-bit)

Mac:

OS X Lion/Mountain Lion running Parallels


 

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