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光學(xué)膠介電常數(shù)測(cè)試儀

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  • 光學(xué)膠介電常數(shù)測(cè)試儀
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參考價(jià) 29900
訂貨量 1 臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) LDJD-C
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時(shí)間:2024/06/27 19:43:22瀏覽次數(shù):1580

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 化工,石油,建材
光學(xué)膠介電常數(shù)測(cè)試儀由測(cè)試裝置(夾具)、高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件、及LKI-1型電感器組成。

詳細(xì)介紹

LDJD-C 光學(xué)膠介電常數(shù)測(cè)試儀

一、概述

LDJD-C 光學(xué)膠介電常數(shù)測(cè)試儀由S916測(cè)試裝置(夾具)、AS2853A型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測(cè)量控件及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測(cè)量的*解決方案。本儀器中測(cè)試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測(cè)樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用QBG-3E或AS2853A數(shù)字Q表具有自動(dòng)計(jì)算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。

二、適用標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法》

GBT 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

 ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法

 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法

 

三、主要參數(shù)

功能名稱:

AS2853A

信號(hào)源范圍DDS數(shù)字合成信號(hào)

100KHZ-160MHz

 

信號(hào)源頻率覆蓋比

11000:1

信號(hào)源頻率精度 6位有效數(shù)

3×10-5 ±1個(gè)字  

采樣精度

11BIT

Q測(cè)量范圍

1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程

Q分辨率

4位有效數(shù),分辨率0.1

Q測(cè)量工作誤差

<5%

電感測(cè)量范圍 4位有效數(shù),分辨率0.1nH

1nH-140mH  分辨率0.1nH

電感測(cè)量誤差

<3%

調(diào)諧電容

主電容17-240pF

電容直接測(cè)量范圍

1pF25nF

調(diào)諧電容誤差

分辨率

±1 pF<1%

0.1pF

諧振點(diǎn)搜索

自動(dòng)掃描

Q合格預(yù)置范圍

5-1000聲光提示

Q量程切換

自動(dòng)/手動(dòng)

LCD顯示參數(shù)

FL,C,Q,LtCt波段等

自身殘余電感和測(cè)試引線電感的
自動(dòng)扣除功能(*)

大電容值直接測(cè)量顯示功能(*)

測(cè)量值可達(dá)25nF

介質(zhì)損耗系數(shù)

精度 萬分之一

介電常數(shù)

精度 千分之一

材料測(cè)試厚度

0.1mm-10mm

四、S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測(cè)試裝置:

固體:材料測(cè)量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選;厚度可調(diào) ≥ 15mm (二選一) 

液體:測(cè)量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm(選配)

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