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| 產地類別 | 國產 |
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產品簡介
詳細介紹
主要內容：
介電常數和介質損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質樣品組成，能對絕緣材料進行高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
WD.106-2855介電常數和介質損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz～120MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線性電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品 放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過公式計算得到。同樣，由測微圓筒線性電容器的電容量讀數變化，通過公式計算得到介電常數。
1 特點：
◎ 本公司創新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。
◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態等。
◎ Q值量程自動/手動量程控制。
◎ DPLL合成發生1kHz～70MHz（WD.106-2852D）, 50kHz～160MHz（WD.106-2853D）測試信號。獨立信號 源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。
◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
2 主要技術指標：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。
2.1.2 tanδ和ε測量范圍：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%