產地類別 | 國產 | 應用領域 | 電子,綜合 |
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TH2839系列采用阻抗測量范圍最寬的自動平衡電橋技術,其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試的強有力工具。它的優良性能和功能為電路的設計和開發以及材料(電子材料和非電子材料)的研究和開發提供了強有力的工具。TH2839以其性能可以實現商業標準如IEC和MIL標準的各種測試。
參考價 | 97170 |
TH2839 | 97170元 | 8 臺 可售 |
更新時間:2023-10-18 16:19:32瀏覽次數:689
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TH2839精密阻抗分析儀
TH2839精密阻抗分析儀
簡介
TH2839系列采用阻抗測量范圍最寬的自動平衡電橋技術,其0.05%的基本精度、20Hz—10MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料的測量要求,是電子元器件設計、檢驗、質量控制和生產測試的強有力工具。它的優良性能和功能為電路的設計和開發以及材料(電子材料和非電子材料)的研究和開發提供了強有力的工具。TH2839以其性能可以實現商業標準如IEC和MIL標準的各種測試。
功能特點
A. 高精度
B. 高穩定性和高一致性
C. 高速度
D. 功能與界面
E. 材料介電常數測試
F. 選配附件
G. 上位機軟件
應用
無源元件:
電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析
半導體元件:
LED驅動集成電路寄生參數測試分析;變容二極管的C-VDC特性;晶體管或集成電路的寄生參數分析
其它元件:
印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
半導體材料:
半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
測試信號源
信號源輸出阻抗
100Ω, ±1% @1kHz
測試頻率
范圍
20Hz-10MHz
20Hz-5MHz
分辨率
20.0000Hz - 99.9999Hz 1mHz
100.000Hz - 999.999Hz 10mHz
1.00000kHz - 9.99999kHz 100mHz
10.0000kHz - 99.9999kHz 1Hz
100.000kHz - 999.999kHz 10Hz
1.00000MHz - 10.00000MHz 100Hz
AC測試信號模式
額定值(ALC OFF):設定電壓為測試端開路時Hcur電壓,設定電流為測試端短路時從Hcur流出電流
恒定值(ALC ON): 保持DUT上電壓與設定值相同,保持DUT上電流與設定值相同
AC信號
電壓范圍
F≤2MHz 5mVrms-- 2Vrms F >2MHz 5mVrms -- 1Vrms
分辨率
5mVrms -- 0.2Vrms 100µVrms
0.2Vrms -- 0.5Vrms 200µVrms
0.5Vrms -- 1Vrms 500µVrms
1Vrms -- 2Vrms 1mVrms
電流范圍
50µArms -- 20mArms
分辨率
50µArms -- 2mArms 1µArms
2mArms -- 5mArms 2µArms
5mArms -- 10mArms 5µArms
10mArms -- 20mArms 10µArms
Rdc測試
電壓范圍
100mV — 2V
分辨率
100µV
電流范圍
0mA— 20mA
分辨率
1µA
DC偏置
電壓范圍
0V — ± 40V
分辨率
0V -- 5V 100µV
5V -- 10V 1mV
10V -- 20V 2mV
20V -- 40V 5mV
電流范圍
0mA— ± 100mA
分辨率
0 A -- 50mA 1µA
50mA -- 100mA 10µA
電壓源
電壓范圍
-10V -- 10V
分辨率
1mV
電流范圍
-45mA -- +45mA
輸出阻抗
100Ω
顯示器
尺寸/類型
7英寸 (對角線)TFT LCD顯示器
比例
16:9
分辨率
800×RGB×480
測量功能
測試參數
Cp-D,Cp-Q,Cp-G,Cp-Rp
Cs-D,Cs-Q,Cs-Rs
Lp-D, Lp-Q, Lp-G, Lp-Rp, Lp-Rdc
Ls-D, Ls-Q, Ls-Rs, Ls-Rdc, Rdc
R-X, Z-θd, Z-θr
G-B, Y-θd, Y-θr
Vdc-Idc
數學功能
A(X+B)+C, X為測試參數,A、B、C為輸入參數
等效電路
串聯、并聯
偏差測量
與標稱值的絕對偏差Δ,與標稱值的百分比偏差Δ%
校準功能
開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD
量程選擇
自動AUTO、手動HOLD
量程
LCR
100mΩ、1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、 100kΩ,共15檔
Rdc
1Ω、10Ω、20Ω、50Ω、100Ω、200Ω、500Ω、1kΩ、2kΩ、5kΩ、10kΩ、20kΩ、50kΩ、100kΩ,共15檔
觸發模式
INT、MAN、EXT、BUS
觸發延遲
0 s -- 999 s,分辨率100us
測試端配置
四端對
測試電纜長度
0m, 1m, 2m
測量平均
1-255次
測量時間
(ms)
速度模式
20Hz
100Hz
1kHz
10kHz
100kHz
1MHz
10MHz
FAST
330
100
20
7.7
5.7
5.6
5.6
MED
380
180
110
92
89
88
88
LONG
480
300
240
230
220
220
220
測量顯示范圍 a 1×10-18; E 1×1018
Cs, Cp
±1.000000 aF -- 999.9999 EF
Ls,Lp
±1.000000 aH -- 999.9999 EH
D
±0.000001 -- 9.999999
Q
±0.01 -- 99999.99
R, Rs, Rp, X, Z, Rdc
±1.000000 aΩ -- 999.9999 EΩ
G,B,Y
±1. 000000 aS -- 999.9999 ES
Vdc
±1.000000 aV -- 999.9999 EV
Idc
±1.000000 aA -- 999.9999 EA
θ r
±1.000000 a rad -- 3.141593 rad
θ d
±0.0001 deg -- 180.0000 deg
Δ%
±0.0001% -- 999.9999%
t
-99.99℃ -- 1000.00℃
Turn Ratio (待擴展)
±0.000000 -- 1000.000
基本測量準確度
0.05%(詳見說明書)
列表掃描
掃描點數
最多201點
掃描參數
測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流
第二掃描參數
無、量程方式、測試頻率、AC電壓、AC電流、DC BIAS電壓、DC BIAS電流、直流源電壓。
注:已選擇的第一掃描參數參數不能再選為第二掃描參數。
觸發模式
順序SEQ
當一次觸發后,在所有掃描點測量。/EOM/INDEX只輸出一次。
步進STEP
每次觸發執行一個掃描點測量。每點均輸出/EOM/INDEX,但列表掃描比較器結果只在最后的/EOM才輸出。
列表掃描比較器
可為每個掃描點設置一對下限和上限。
可選擇:通過第一掃描參數判斷/通過第二參數判斷/不用于每一極限。
列表掃描時間標記
在順序模式中,將觸發點設定為0時,通過定義時間就可在每個測量點記錄測量開始的時間。
圖形掃描分析
掃描點數
51、101、201、401、801點可選
掃描軌跡
主/副參數可選擇
顯示范圍
自動、鎖定
坐標標尺
對數、線性
掃描參數
頻率、ACV、ACI、DCV BIAS/DCI BIAS、直流電壓源
掃描結果顯示
主/副參數最大值/最小值、設定點主/副參數值
掃描圖形存儲
掃描圖形可存儲于儀器內部FLASH、外部USB存儲器或上傳上位機。
比較器
Bin分檔
主參數
9 BIN、OUT_OF_BINS、AUX_BIN和LOW_C_REJECT
副參數
HIGH、IN、LOW
Bin極限設置
絕對值、偏差值、百分偏差值
Bin計數
0 -- 999999
PASS/FAIL指示
滿足主參數為9 BIN之一、副參數為IN,前面板PASS燈ON,否則FAIL ON
測量輔助功能
數據緩沖存儲功能
201個測量結果可分批讀取
保存/調用功能
40組儀器內置非易失存儲器測試設定文件
500組儀器USB存儲器測試設定文件/截屏圖形/記錄文件
鍵盤鎖定功能
可鎖定前面板按鍵
接口
USB HOST端口
通用串行總線插座,A類;FAT16/FAT32格式。U盤存儲或條形碼掃描
USB DEVICE端口
通用串行總線插座,小型B類(4個接觸位置);與USBTMC-USB488和USB 2.0相符合,陰接頭用于連接外部控制器。
LAN
10/100BaseT以太網,8引腳,兩種速度選擇
HANDLER接口
用于Bin分檔信號輸出
外部DC BIAS控制
控制TH1778/TH1778S偏置電流源,最多一臺TH1778+5臺TH1778S (120A MAX)
RS232C
標準9針,交叉
GPIB (選件)
24針D-Sub端口(D-24 類),陰接頭與IEEE488.1、2和SCPI兼容。
SCANNER(選件)
與TH2819X、TH2829X SCANNER接口兼容
現售精密阻抗分析儀