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詳細摘要： FE-SEM獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術、半導體、電子器件、生命科學、材料...

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詳細摘要： 具有紫外可見區8Abs、近紅外區7Abs的測光范圍 ?近紅外區 在近紅外區配置高靈敏度的 InGaAs 檢測器。 直入射檢測器通過安裝集成放大器的檢測器實現低噪...

詳細摘要： 備受贊譽的Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀（XPS）集合了性能、快速分析及杰出的靈敏度、分辨率等優勢。K-Alpha將前沿...

詳細摘要： 表面和界面分析充滿了挑戰，需要一款儀器能夠為后續的研發改進提供可靠的結果。Thermo Scientific™ Nexsa™ G2 表面...

詳細摘要： Thermo Fisher Scientific ESCALAB Xi+是新研發出的一款基于ESCALAB 250Xi產品后，具有可擴展功能、多種分析技術集成化...

詳細摘要： 標準主機包含Mg/Al Kα雙陽極非單色化X射線源，可實現高靈敏度大面積XPS分析，可增加高溫催化反應池等。

詳細摘要： Thermo Scientific™ ESCALAB™ QXiX 射線光電子能譜儀（XPS）是ESCALAB 系列產品。作為可擴展的多技...

詳細摘要： 島津/Kratos公司的AXIS SUPRA+作為光電子能譜儀傳承了上一代產品高度智能化的優點，將采譜、成像功能與自動化高度相融合，保證了高樣品吞吐量和易用性，...

詳細摘要： The PHI 5000 Versaprobe II (VP-II) 能提供高性能的微區光譜，化學成像，二次電子成像，具有離子與電子雙中和系統，以及可以在極低電...

詳細摘要： 智能化軟件提示維護時間以此消除儀器宕機時間 可靠的自動化使得樣品輸出量， 簡單易用的系統幫助快速收回投資成本

詳細摘要： 智能化軟件提示維護時間以此消除儀器宕機時間 可靠的自動化使得樣品輸出量簡單易用的系統幫助快速收回投資成本

詳細摘要： 波通DA7350采用全息固定光柵分光、二極管陣列檢測器檢測光信號、全固定光學系統等技術，毫秒級并行采集全檢測波段光譜信息，分光速度快，體積小，方便安裝。

詳細摘要： 波通DA 7440™ 是一種*、現代和多功能的在線近紅外傳感器，用于生產線在線測量。它在加工線上對產品進行實時多組分測量，為過程控制和質量監控提供信...

詳細摘要： FT 9700是一款全波長范圍的高性能傅里葉變換近紅外光譜儀，適用于分析各類產品。技術設計*、采樣穩定，可實現可靠測量。

詳細摘要： 日立新一代全數字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，操作的一體化和自動化程度都有明顯提高。

詳細摘要： 日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列（HITACHI UHR FE-SEM SU8200 Series，SU8220，SU8230，SU8240）采用日...

詳細摘要： 日立高新技術公司（以下簡稱：日立高新）8月4日開始發售的肖特基式場發射掃描電子顯微鏡“SU5000“，搭載了全新的用戶界面和“EM Wizard“，無論用戶的操...

詳細摘要： 日立高新技術公司于2016年4月15日在全球發布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產品結構緊湊，占地面積小，但分辨率不輸大型電鏡，同時操作極其...

詳細摘要： “Regulus系列“是日立高新技術的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的 “Regulus8100“ 以及SU8200系列的升級 “R...