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Agilent 7850 ICP-MS質譜儀 詳細摘要:Agilent 7850 ICP-MS 是建立在數十年的技術創新和成功商業應用基礎上,儀器內置上百個傳感器并配合直觀的軟件功能,是全新一代智能化 ICP-MS 系統。
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安捷倫Cary3500紫外可見分光光度計 詳細摘要:創新的Agilent Cary 3500 紫外-可見分光光度計具有優異的光度測量性能和眾多*的測量功能,將為您的實驗室帶來變革。全新的設計理念,旨在有效簡化您的實驗設計并增強測試結果的可靠性。
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UH5700-日立紫外可見近紅外分光光度計 詳細摘要:1.190~3300nm的寬波長,支持紫外-可見-近紅外區,滿足更多測定需求。 2.秉承日立優異的光柵制造技術,使用具有日立蝕刻衍射光柵,衍射效率高,散射光量低,極大提高測光范圍。 3.自動可變狹縫設計,根據樣品在不同波長處的光量自動設定狹縫,實現紫外-可見-近
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F-4700-日立熒光分光光度計 詳細摘要:日立熒光分光光度計F-4700是在前代機型F-4600的基礎上更新升級,基本性能得到了進一步提升。靈敏度和波長掃描速度是選擇熒光分光光度計的兩個重要因素,F-4700與前代機型相比,靈敏度和掃描速度分別提高了1倍。與此同時,F-4700 采用長壽命氙燈,與前代機型使
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EEM View-日立熒光分布成像系統 詳細摘要:為熒光分光光度計的配件系統,這是將相機與熒光分光光度計的結合,融合了智能算法的先進技術。能夠同時獲取樣品圖像和光譜信息。
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NexION® 5000-珀金埃爾默多重四極桿等離子體質譜儀ICP-MS 詳細摘要:NexION 5000是業界多重四極桿ICP-MS,由四組四極桿組成,其性能超越了傳統的三重四極桿技術,無論是在背景等效濃度還是在檢出限,NexION 5000都比傳統的三重四極桿有數量級上的改善。
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EXSTARTG/DTA6000系列-日立綜合熱分析儀TG/DTA 詳細摘要:精工是水平雙臂式TG/DTA技術的,EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價比贏得了包括清華大學、北京大學、中科院、索尼、普利斯通等國內外眾多用戶的青睞及好評,可以通過檢測每一步的樣品質量損失來完成分解溫度、組分分析、可燃性、氧化穩定性、相轉變溫度及
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PY-ASI-賽多利斯酸度計電極PB-10/PB-21 詳細摘要:Satorius賽多利斯原裝電極,型號為PY-ASI,適合于酸度計PB-10和PB-21,UB-7和UB-10,帶溫度探頭的三合一復合電極,酸度計PH電極,原裝*,安全耐用。
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PY-ASI-賽多利斯酸度計電極UB-7/UB-10 詳細摘要:Satorius賽多利斯原裝電極,型號為PY-ASI,適合于酸度計PB-10和PB-21,UB-7和UB-10,帶溫度探頭的三合一復合電極,酸度計PH電極,原裝*,安全耐用。
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日立FT160鍍層測厚儀 詳細摘要:FT160配置部件,可以提供精細結構上的超薄鍍層的元素分析。毛細管聚焦光學鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強度且其可測量的部件尺寸小于傳統準直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器(SDD)充分利用光學系
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FT110A-日立鍍層測厚儀 詳細摘要:束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體
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X-Strata920-日立X射線熒光鍍層測厚儀 詳細摘要:微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進行質量控制和驗證測試,在幾秒內即可獲得準確的數據。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固
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EA1000VX-日立分析X射線熒光分析儀 詳細摘要:概要:對應環境限制物質管理、可快速且簡單測量有害物質的X射線熒光分析儀。
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日立手持XRF土壤重金屬分析儀 詳細摘要:手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準確化學結構分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結果。
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Lab-X5000 日立臺式X射線熒光光譜儀 詳細摘要:XRF 分析(X射線熒光)與高度靈活和強大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000,在各種應用中保證質量和過程控制要求;例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。
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X-Supreme8000-日立臺式X射線熒光光譜儀 詳細摘要:XRF 分析(X射線熒光)與高度靈活和強大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000,在各種應用中保證質量和過程控制要求;例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。
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X-MET8000-手持式X射線熒光光譜儀 詳細摘要:手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準確化學結構分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結果。
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New STA系列-日立New STATG-DSC熱分析儀 詳細摘要:New STA系列新增了能夠確保天平部位溫度恒定的新結構,消除了受加熱爐溫度變化影響而導致的微小重量誤差,讓基線穩定性水平遠超日立原有產品。在加熱爐內未放置試樣的狀態下,從室溫加熱至1,000℃,重量變動幅度僅在10µg以下。此外,日立為滿足客戶
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日立新款DSC系列差示掃描熱量計 詳細摘要:我們的DSC(差示掃描量熱儀)被廣泛用于材料表征。 例如熔點,玻璃化轉變,結晶。 DSC600被廣泛用于包括聚合物,制藥,化學,石油和天然氣,食品和金屬等行業的質量控制和研發。 日立的DSC具有靈敏度和基線平坦度,從而提供更精確的試驗,并能評價最微小的反
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日立手持式 LIBS 激光光譜儀—Vulcan 詳細摘要:Vulcan 是一款耐用且分析速度極快的合金分析儀。扣扳機后一秒即會顯示結果。且產品使用激光誘導擊穿光譜技術 (LIBS),您無需擔心X射線的影響。無論您的業務是廢料分選還是 PMI 質量控制,Vulcan 始終提供準確且一致的合金牌號。
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