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DB233z CLR 組件測試儀

DB23X系列

 DB230 CLR元件測試儀

 DB232 CLR 元件測試儀

 DB233z CLR 組件測試儀

 DB236大電容測試儀

概述
電容器的交流測量

用于精確測量電容、電感和電阻參數的 Danbridge 儀器套件包括供實驗室使用的獨立測量電橋以及用于在工業環境中快速測量大量元件的自動系統。

主要應用：

在自動分選機中快速、精確地測試電容器。

薄膜/箔電容器測試：

薄膜/箔電容器測試通常通過 1kHz 電容測試和 100kHz tan ? 或 ESR 測試進行。雙頻測試是一個功能，可以在不到 50 毫秒的時間內完成，并將分選輸出發送到分選機中的箱式分選裝置。

測試薄膜/箔電容器時，我們建議使用電容測試儀 DB232。該儀器或早期的 CT30 或多或少是薄膜/箔電容器自動測試的工業標準，并被全球大多數最大的薄膜/箔電容器制造商所使用。

對于電容器的絕緣測試，請注意，快速兆歐表 DB622 是 DB232（或舊 CT30）的匹配。借助預充電和精細充電高壓電源以及多個充電站，丹橋兆歐表可以確保高速測試。

如果您使用舊的 Danbridge 電容器測試儀（例如 CT20 和 CT30），DB232 是替換它們的合理選擇。特別是DB232內置CT30模式，可以快速、簡單地更換舊的CT20和CT30元件測試儀。 
請注意，舊的 CT20 和 CT30 組件測試儀不再受支持。然而，通過將舊的 Danbridge 設備更換為新設備，我們可以為您提供舊儀器的回購價格以及類似新設備的靈活付款或租賃。

鉭電容的測試：

鉭電容器或大型薄膜/箔電容器通常使用高電容測試儀 DB236 進行測試。該儀器除了具有 DB232 的功能外，還可以進行阻抗測試，例如 @ 10kHz 或 100kHz。

陶瓷電容器的測試：

陶瓷電容器根據電容值需要以1kHz或1MHz進行測試。電容測試儀 DB230 在 1kHz 時表現出出色的性能，是市場上最快的電容測試儀之一，測試速度在 1MHz 時低至 6ms，包括排序輸出。
因此，DB230 非常適合利用當今 SMT 分選機的高速特性，從而通過為您提供高品質電容器的高產量來確保高投資回報。

其他 CLR 應用程序的示例：

電容器的一般測試、變壓器和線圈的測量、DB233z“取放"機器中的無源元件測試、電纜測試、電容式麥克風測試以及繞線功率電阻器中的電阻和電感。

關鍵特點

測量頻率：100kHz、10kHz、1kHz 和 100Hz
總體精度優于 0.05%，損耗因數優于2 x 10 -4
外部橋接模塊，用于儀器和橋接模塊之間的長電纜（3m 或 118 英寸）
測量電纜：1m 或 39.3 英寸（標配）
輸入保護可防止 2 焦耳至 1kV 的充電電容器。此功能可以通過可選的保護盒 PB11 進行擴展
內置接觸檢查功能確保與設備的接觸良好，額外2-6 ms0
高測量速度：從觸發到測量結束20至180ms
測量范圍：0.1pF 至 3mF，具體取決于頻率
100kHz 時測量高達 9μF (0.2%)
內部偏置電壓：發電機端子上高達 ±3V DC，以 0.1V 步長設置
外部偏置電壓：高達 ±48V DC 平均值：1 至 99 次測量
顯示讀數：直接或偏差電容以及損耗測量的 tan ? 或 ESR 以及 L/Q、Rs、Rp、Z

技術規格

 DB210 CLR 橋 *已停產

 DB230 CLR元件測試儀

 DB232 CLR 元件測試儀

 DB233z CLR 組件測試儀

 DB236大電容測試儀

應用查找器
測試應用：	DB210   *已停產	DB230	DB232	DB233z	DB236	DB250系統
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掃描儀或多次測試 - 2 x 20 夾具
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