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詳細(xì)介紹
LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準(zhǔn)的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是萬能的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
| 可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚 |
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| 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。 |
| 儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求。 涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。 彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。 |  | |
| 隨機(jī)附送儀器箱 （儀器的舉例） |
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 特點(diǎn)概述 |
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| LEPTOSKOP 2042 帶有45°微型探頭 | * 取決于配置級別 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
出廠時已校準(zhǔn)，立即可用 |
| 3種配置級別以更好的完成測量人任務(wù) |
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| LEPTOSKOP 2042 有3種配置級別 |
 | 基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征 |
| 高級型 - 附加統(tǒng)計(jì)評估 |
| 專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評估和數(shù)據(jù)存儲 |
| 如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計(jì)"和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲"，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。 這里有操作指南和制定模塊的參考說明。 |  | |
| 通過解鎖代碼可以很方便的升級 （證書舉例） |
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| 舉例：儀器上的用戶界面圖像 |
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| 選擇菜單項(xiàng)目（例如：語言清單） | ||||||
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| 清晰的統(tǒng)計(jì)讀數(shù)值和當(dāng)前測量值 | ||||||||||||||||||
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| 電腦讀數(shù)也被存儲在目錄和文件中 | ||||||||
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| 多樣的探頭 |
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| 多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。 |
| 探頭類型 | 測量方法 | 測量范圍 | 訂貨號 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)探頭Fe 0?br> 用于在寬闊的、容易測量的地方 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.100 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe 0?/font> | NFe | 0 - 1000 祄 | 2442.130 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 NFe S 0?/font> | NFe | 0 - 3750 祄 | 2442.140 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe S 0?br>用于測量表面有寬闊的涂層厚度 | Fe | 0.5 - 20 mm | 2442.120 |
 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 Fe 90?br>用于測量難接近的部位，例如：管子的內(nèi)部 | Fe | 0 - 3000 祄 | 2442.110 |
 | 雙晶探頭用于測量表面有寬闊的涂層例如：管子的內(nèi)部涂層. | Fe | 0.5 - 12.5 mm | 2442.200 |
 | 微型探頭0?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：鉆孔的底部 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.300 2442.310 |
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 | 微型探頭 45?用于測量小尺寸和難接近的部位 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.320 2442.330 |
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 | 微型探頭 90?用于測量小尺寸和難接近的部位例如：管子的內(nèi)壁和鉆孔 | FeNFe | 0 - 500 祄 | 2442.340 2442.350 |
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| 注：點(diǎn)擊單獨(dú)的探頭圖片，可以得到更多詳細(xì)信息 |
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| 技術(shù)資料 |
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| 數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB |
| 電源：電池、充電電池、USB或外接電源 |
| 測量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭) |
| 測量速度: 每秒測量２個數(shù)值 |
| 存儲: 最多 9999 個數(shù)值，140個文件 |
| 誤差: 涂層厚度 < 100 祄: 1 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 (校準(zhǔn)后) 涂層厚度 > 100 祄: 1..3 % 的數(shù)值 +/- 1 祄 涂層厚度 > 1000 祄: 3..5 % 的數(shù)值 +/- 10 祄 涂層厚度 > 10000 祄: 5 % 的數(shù)值 +/- 100 祄 |
| 附件 |
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| 試塊和膜片 |
| 探頭定位裝置 (適用于微型探頭) |
| 定位輔助裝置 (適用于微型探頭) |
| 電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對整個目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理 |
| 電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的杜說或全部文件傳輸?shù)?span id="scmoo0moe" class="en" style="font-family: Arial, Helvetica, sans-serif; line-height: 20.8px;">Windows 程序里 |
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