里氏硬度計HL150
產(chǎn)品介紹:
HL150全角度筆式一體里氏硬度計是我公司經(jīng)過多年研制，針對目前市場上所有單角度里氏硬度計的不足之處而研發(fā)的具有革命性的產(chǎn)品。全角度技術(shù)不僅大大提高了測試精度，而且解決了單角度硬度計的線性精度問題，并且簡化了操作，避免人為操作不當而引起的誤差。

里氏硬度計HL150

產(chǎn)品介紹:

HL150全角度筆式一體里氏硬度計是我公司經(jīng)過多年研制，針對目前市場上所有單角度里氏硬度計的不足之處而研發(fā)的具有革命性的產(chǎn)品。全角度技術(shù)不僅大大提高了測試精度，而且解決了單角度硬度計的線性精度問題，并且簡化了操作，避免人為操作不當而引起的誤差。

全角度技術(shù)的應(yīng)用使我公司里氏硬度計達到了水平。

產(chǎn)品特點：

1.  筆式一體設(shè)計，外形小巧時尚；

2.  USB接口用于充電或連接計算機；
3.  可以大值、小值、平均值；
4.  可以測量10種不同的金屬材料；
5.  可以海量存儲300組測試數(shù)據(jù)， 每組數(shù)據(jù)包含1到32次測量值；
6.  可預(yù)先設(shè)置硬度值上下限，超出范圍自動剔除，方便用戶批量測試的要求；
7.  儀器具備自動關(guān)機功能和背光調(diào)節(jié)功能；
 

 測試原理：

 隨著單片技術(shù)的發(fā)展，1978年，瑞士人Leeb博士*提出了一種全新的測硬方法，它的基本原理是具有一定質(zhì)量的沖擊體在一定的試驗力作用下沖擊試樣表面，測量沖擊體距試樣表面1mm處的沖擊速度與回跳速度，利用電磁原理，感應(yīng)與速度成正比的電壓。里氏硬度值以沖擊體回跳速度與沖擊速度之比來表示。

 計算公式:HL=1000*(VB/VA)

式中:HL--里氏硬度值

VB--沖擊體回跳速度

VA--沖擊體沖擊速度

 測試步驟：

1.將被檢測物體應(yīng)平放于地面，必須平穩(wěn)，不得有任何晃動，被檢測位置不得有懸空狀態(tài)，必要時需加支撐塊;

2.打開硬度計→物體的材料設(shè)置→硬度值設(shè)置(HRCHRBHB)→硬度檢測方向設(shè)置→開始硬度檢測;

3.將沖擊裝置壓緊在被測表面并向下按一下，1s后再按硬度計上面凸出的小圓柱，硬度值就會自動顯示出來，在這過程中操作人員必須將沖擊裝置放穩(wěn)，方向也應(yīng)與被測面保持垂直狀態(tài);

4. 每個檢測部位應(yīng)至少測試3個點，兩測試點之間距離應(yīng)≥3mm，測試完后取平均值做為該部位度，并記錄，然后進入下一個部位檢測;

5.測試結(jié)果與物體的要求進行比較，達到要求為合格，轉(zhuǎn)入下一道工序;不合格則轉(zhuǎn)入隔離區(qū)，記錄檢測結(jié)果;

使用要求：

在現(xiàn)場工作中，經(jīng)常遇到曲面試件，各種曲面對硬度測試結(jié)果影響不同，在正確操作的情況下，沖擊落在試件表面瞬間的位置與平面試件相同，故通用支撐環(huán)即可。但當曲率小到一定尺寸時，由于平面條件的變形的彈性狀態(tài)相差顯著會使沖擊體回彈速度偏低，從而使里氏硬度示值偏低。因此對試樣，建議測量時使用小支撐環(huán)。對于曲率半徑更小的試樣，建議選用異型支撐環(huán)。

一、對被測試件的一般要求試件表面應(yīng)潔凈，無灰塵，無油污和無氧化皮。

二、對試件表面溫度的要求試件表面的溫度不能過熱，要求溫度小于120℃。測試溫度  為4℃-38℃。

三、對試件表面粗糙度的要求試件表面粗糙度應(yīng)滿足下表的要求，試件表面的粗糙度不但影響測試精度，而且影響沖擊球頭的使用壽命。

四、對試件重量的要求

1、對足夠重的試件不需要支撐，直接進行測試。

2、對重量不太重的試件，有懸伸部分的試件以及薄壁試件，在測試時應(yīng)使用物體支撐，以避免沖擊力引起試件的扭曲、變形和移動。

3、對重量較小的試件，應(yīng)使其與重量大與5kg的支撐體牢牢耦合，要求試件與支撐體表面必須平整、光滑，耦合劑(凡士林，機油等)用量不宜過多，測試方向必須垂直于耦合平面。沖擊裝置與試件重量的關(guān)系見下表:

五、對試件表面硬化層厚度的要求對于表面覆有硬化層的試件，為保證測試精度，要求對應(yīng)于不同的沖擊裝置試件表面硬化層厚度應(yīng)符合下表規(guī)定:

六、對板材、管壁型試件厚度的要求對于板材、管材和其它薄片型試件的測試，為保證測試精度，要求對應(yīng)于不同的沖擊裝置試件厚度應(yīng)符合下表

七、對曲口試件保證測試精度的要求使用D型沖擊裝置，要求試件曲面半徑大于30mm;使用G型沖擊裝置，要求試件曲面半徑大于50mm。對不滿足上述要求的球面、柱面和凹面等曲口試件，為保證測試精度，應(yīng)采用異型支撐環(huán)(選購件)。

八、對試件表面無磁性的要求試件表面不能帶有磁性，帶有磁性的試件將影響測試精度。要求試件剩磁應(yīng)小于4G。

九、對試件無振動的要求測試時，試件所處的四周環(huán)境不應(yīng)有振動，否則會影響測試結(jié)果。

技術(shù)參數(shù)：

 測試及換算范圍:

 

標準配置: