詳細介紹
B4S-EN(500037)美國GE保護膜探頭
B4S-EN應用:B4S-EN配套USM88;B4S-EN配套USM36;B4S-EN配套USMGO+;B4S-EN配套USM87;B4S-EN配套CTS-1002;B4S-EN配套PXUT-350N ........
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
類型 | 訂購號碼 | D | f | N | 備注 | ||
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| mm | in | (MHz) | mm | in |
|
B1S | 57744 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 |
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B1S-EN | 500035 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B1S-O | 57755 | 24 | 0.94 | 1 | 23 | 0.9 | 頂端接口 |
B2S | 57745 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 |
|
B2S-EN | 500036 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B2S-O | 57756 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 頂端接口 |
B2S-O-EN | 500267 | 24 | 0.94 | 2 | 45 | 1.8 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B4S | 57746 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 |
|
B4S-EN | 500037 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 |
B4S-O | 57757 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 頂端接口 |
B4S-O-EN | 500268 | 24 | 0.94 | 4 | 88 | 3.5 | 符合 DIN EN 12668-2 頂端接口 |
B5S | 57747 | 24 | 0.94 | 5 | 110 | 4.3 |
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應用
用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機器零件、殼體
特點
縱波單晶探頭
適合DGS缺陷評判
性能參數誤差小,適合高精度檢測
可更換保護膜,保護探頭不被磨損
柔性保護膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合
合金壓鑄殼體,堅固耐用
用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產品)
附件
描述 | 類型 | 備注 |
保護膜 (1套=10片) | ES45(53756) ES24(53769) | 用于B..S; 用于MS..S |
延遲塊或斜塊 | 特殊訂單 | 如用于高溫檢測 |
電纜線 | PKLL2(50326) MPKL2(50486) | 用于B..S; 用于MS..S |