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京海興樂科技(北京)有限公司>>無損探傷系列>>超聲探頭>>SEB4-EN SEB4-EN-0° SEB 4歐規(guī)雙晶直探頭

歐規(guī)雙晶直探頭

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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 SEB4-EN SEB4-EN-0° SEB 4
  • 品牌 DRUCK/德魯克
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市

在線詢價 收藏產(chǎn)品 加入對比 查看聯(lián)系電話

更新時間:2019-02-24 18:58:58瀏覽次數(shù):668

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
SEB2 SEB 2-0° SEB 2-EN-0°歐規(guī)雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷,經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體(如鍛造或鑄造的物體)中關(guān)鍵部位小缺陷的探測(如氣孔、微孔和熱裂縫)。更適用于平行物體表面的缺陷定位(如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線)特性

詳細介紹

SEB4-EN SEB4-EN-0° SEB 4歐規(guī)雙晶直探頭

SEB2 SEB 2-0° SEB 2-EN-0°雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷,經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體(如鍛造或鑄造的物體)中關(guān)鍵部位小缺陷的探測(如氣孔、微孔和熱裂縫)。更適用于平行物體表面的缺陷定位(如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線)特性

獨立的聲波發(fā)射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個金屬環(huán)保護以防磨損

在焦點內(nèi)特別適合剩余壁厚的測量

加上特殊的延遲塊(定制產(chǎn)品)能夠在高溫表面測量

應用

 

  • 近表面的小缺陷探測和評估

  • 焦點內(nèi)大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

  • 腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量(包括高溫情況下測量)

  • 粘結(jié)檢測

    螺釘,螺栓,銷釘

    覆層和堆焊層

    軸,桿,方坯芯檢測

    粗晶材料

    火車車輪

SEB..
用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷,經(jīng)常用作在中等和大尺寸物體(如鍛造或鑄造的物體)中關(guān)鍵部位小缺陷的探測(如氣孔、微孔和熱裂縫)。更適用于平行物體表面的缺陷定位(如層狀結(jié)構(gòu)缺陷、渣孔以及厚鋼板中的分隔線)。

http://www.sztmp.cn/upfiles/zhitantou/shuangjing/201607/16/a7b7207f19ad9b9e8.jpg

SEB1銅棒中心缺陷

MSEB..
常用于所有類型小零件(如螺桿、螺釘、螺母、銷釘、軸承環(huán)、軸承和裝配材料)的檢測,也可用于壁厚和剩余壁厚的測量(如被腐蝕和侵蝕的管子、容器和機械零件)。

http://www.sztmp.cn/upfiles/zhitantou/shuangjing/201607/16/a9231388d2e92d961.jpg

MSEB5彎曲處剩余壁厚的測量

http://www.sztmp.cn/upfiles/zhitantou/shuangjing/201607/16/a8067b091a0ce2aee.jpg

MSEB4金屬融渣裂縫

SEB..KF

體積小巧的小直徑特殊探頭,用于近表面小缺陷的探測。小巧的形狀使這種類型的探頭可以用于一些特殊位置或者不易接近位置的檢測。

http://www.sztmp.cn/upfiles/zhitantou/shuangjing/201607/16/a56a2e5dcd42c0896.jpg

SEB10KF3插口焊接點

 

歐規(guī)<strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong><strong>雙晶直探頭</strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong></strong>

選型

類型15/類型16

類型15

類型16

類型17/類型18

類型17

類型18

A: 30mm

A: 20mm

A: 14mm

A: 14mm

B: 65mm

B: 45mm

B: 17mm

B: 17mm

C: 28.5mm

C: 16.5mm

C: 13mm

C: 7.5mm

D: 10mm

D: 5mm

D: 6.4mm

D: 6.4mm

 

B..S  MB..S 

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜

 

外殼類型

A

B

C

mm

in

mm

in

mm

in

類型2

30

1.18

59

2.32

45

1.69

類型3

20

0.79

43

1.77

25

0.98

 

類型

訂購號碼

D

f

N

備注

mm

in

(MHz)

mm

in

B1S

57744

24

0.94

1

23

0.9

 

B1S-EN

500035

24

0.94

1

23

0.9

符合 DIN EN   12668-2

B1S-O

57755

24

0.94

1

23

0.9

頂端接口

B2S

57745

24

0.94

2

45

1.8

 

B2S-EN

500036

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

B2S-O

57756

24

0.94

2

45

1.8

頂端接口

B2S-O-EN

500267

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B4S

57746

24

0.94

4

88

3.5

 

B4S-EN

500037

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

B4S-O

57757

24

0.94

4

88

3.5

頂端接口

B4S-O-EN

500268

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B5S

57747

24

0.94

5

110

4.3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

MB2S

57748

10

0.39

2

8

0.3

 

MB2S-EN

500038

10

0.39

2

8

0.3

符合 DIN EN 12668-2

MB2S-O

57975

10

0.39

2

8

0.3

頂端接口

MB4S

57749

10

0.39

4

16

0.6

 

MB4S-EN

500039

10

0.39

4

16

0.6

符合 DIN EN 12668-2

MB4S-O

57976

10

0.39

4

16

0.6

頂端接口

MB5S

57750

10

0.39

5

20

0.8

 

MB5S-O

57977

10

0.39

5

20

0.8

頂端接口

 


 

可定制特殊規(guī)格

附件

描述

類型

備注

保護膜

1=10片)

ES45(53756)

ES24(53769)

用于B..S;

用于MS..S

延遲塊或斜塊

特殊訂單

如用于高溫檢測

電纜線

PKLL2(50326)

MPKL2(50486)

用于B..S;

用于MS..S

帶保護膜探頭—北美規(guī)格

QQ圖片20170627085618.png

晶片尺寸

A

B

C

mm

in

mm

in

mm

in

mm

in

13

0.5

19.1

0.75

30.5

1.2

23.9

0.94

19

0.75

25.4

1

30.5

1.2

30.2

1.19

25

1

31.8

1.25

30.5

1.2

36.6

1.44

帶保護膜探頭—PFCR (側(cè)裝BNC), PFCS (頂裝BNC)

頻率

晶片尺寸?

訂購號碼

頻率

晶片尺寸?

訂購號碼

(MHz)

mm

in

Gamma 系列PFCR

Gamma 系列PFCR

(MHz)

mm

in

Gamma 系列PFCR

Gamma 系列PFCR

1

13

0.5

241-240

241-260

3.5

13

0.5

243-240

243-260

19

0.75

251-240

251-260

19

0.75

253-240

253-260

25

1

261-240

261-260

25

1

263-240

263-260

2.25

13

0.5

242-240

242-260

5

13

0.5

244-240

244-260

19

0.75

252-240

252-260

19

0.75

254-240

254-260

25

1

262-240

262-260

25

1

264-240

264-260

注意備用保護膜套裝另售可訂制特殊規(guī)格

備用保護膜套裝—PFCR/PFCS

套裝類型

訂購號碼

探頭晶片尺寸?

.5in

.75in

1.00in

(13mm)

(19mm)

(25mm)

PM

118-450-120

118-450-140

118-450-160

PWC

118-450-220

118-450-240

118-450-260

PHTD-1.0in(25.4mm)延遲塊

118-450-320

118-450-340

118-450-260

PHTD-1.5in(38.1mm)延遲塊

118-450-420

118-450-440

118-450-460

PM型工具包包括一個滾花環(huán)、壓緊螺母、扳手、12片薄膜和一瓶2盎司的耦合劑(不包括探頭

PWC型工具包包括一個滾花環(huán)、三個防磨帽和一瓶2盎司的 耦合劑(不包括探頭。如果對近表面分辨率要求很高,則不能采用該選項。

PHTD型工具包包括一個滾花環(huán)、一個1英寸或1.5英寸長的高溫延遲塊和一瓶2盎司的耦合劑 (不包括探頭

 

訂購號碼

探頭晶片尺寸?

.5in

.75in

1.00in

(13mm)

(19mm)

(25mm)

保護膜 每包12

118-220-020

118-220-021

118-220-022

耐磨帽 每包12

118-240-123

118-240-122

118-240-121

高溫延遲塊*1.0in(25.4mm)

118-440-027

118-440-031

118-440-035

高溫延遲塊*1.5in(38.1mm)

118-440-029

118-440-033

118-440-037

BNC 電纜線

118-140-016

保護膜,耐磨帽 以及延遲塊 耦合劑

118-300-740

*高溫(PHTD)延遲塊:高溫度400F,大接觸時間為10秒;重新使用前冷卻到環(huán)境溫度。

 

京海興樂科技(北京)有限公司

公司主要提供UT(超聲)  MT(磁粉)  PT(滲透)   RT (射線)等設備及周邊耗材

主要經(jīng)營品牌:美國奧林巴斯OLYMPUS(原泛美)、美國GE(原德國KK)、美國磁通Magnaflux

汕超(汕頭超聲)、瑞典蘭寶、美國SP公司、美國達高特、德國MR、英國易高、新美達、船牌、等等

提供的無損檢測儀器設備主要有超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、超聲波測厚儀、TOFD探傷儀、超聲波探頭、相控陣探頭、渦流探傷儀、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、磁粉探傷儀、磁粉、紫外線燈、照度計、工業(yè)掃查器、航空航天檢測系統(tǒng)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、工業(yè)顯微鏡、光譜(合金)分析儀工業(yè)X光機、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機管材的無損檢測解決方案、復合材料超聲波自動化檢測、超聲波板材/管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊超聲波檢測設備,以及其它各類型分析檢測儀器。

長期以來,依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊伍,本著誠信守法,客戶*的經(jīng)營原則,以良好的信譽、豐富的經(jīng)驗、周到的服務,為客戶提供了*的檢測設備及技術(shù)解決方案,贏得了國內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設備、系統(tǒng)及方案應用于中國的各種*工業(yè)領(lǐng)域,

用戶行業(yè)包括航空航天,核能電力,船舶制造,海洋石油,石油化工,機械制造,鐵路交通,進口商檢,技術(shù)監(jiān)督,高校及研究機構(gòu)等。依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊伍,本著守法,誠信,客戶*的經(jīng)營原則,公司以良好的信譽,周到的售前和售后服務,贏得了廣大用戶的信賴和好評。

京海興樂科技(北京)有限公司:檢查解決方案助您提高生產(chǎn)力

京海興樂科技(北京)有限公司以技術(shù)為先導,為客戶提供高效、優(yōu)質(zhì)和安全的檢測解決方案。我們設計、并維護超聲波探傷儀,根據(jù)客戶需求定制特殊規(guī)格探頭,滿足于各行業(yè),代理工業(yè)工業(yè)內(nèi)窺鏡,X射線和渦流檢測設備,為航空航天、電力、石油天然汽車和鋼鐵等行業(yè)應用制定專業(yè)檢查方案。主要代理品牌:美國GE、德國KK、美國奧林巴斯(Olympus)、汕頭汕超、美國泰克(Tektronix)、美國福祿克(FLUKE)、美國安捷倫(Agilent)、中國臺灣固緯(GW)、香港優(yōu)利德(UNI-T)、新美達(美柯達)、滬船(船牌)等。

京海興樂科技(北京)有限公司主要經(jīng)營:超聲波探傷儀、無損檢測儀器系列、示波器系列、安規(guī)測試儀系列、分析儀器系列、紅外測溫儀系列、行業(yè)儀器系列、電子測試儀器系列、環(huán)境監(jiān)測儀器系列、力學儀器系列、電工測試儀器系列、通訊儀器儀表系列、通用監(jiān)測儀器系列、工程監(jiān)測儀器系列、計量檢測儀器系列、氣體檢測儀器系列、其他測試儀器等。

產(chǎn)品測試報告:

 

系列

型號

頻率

(MHz)

焦距

(mm)

單晶片尺寸

(mm)

外觀尺寸

帶寬

接口類型

接口方向

SEB

SEB 1

1

20

Φ21半圓

類型15

40

雙聯(lián)

Lemo 00

側(cè)裝

SEB 1-EN

1

20

SEB 2

2

15

7x18

SEB 2-EN

2

15

SEB 2-0°

2

30

SEB 2-EN-0°

2

30

SEB 4

4

12

6x20

SEB 4-EN

4

12

SEB 4-0°

4

25

SEB 4-EN-0°

4

25

MSEB

MSEB 2

2

8

Φ11半圓

類型16

40

MSEB 2-EN

2

8

MSEB 4

4

10

3.5x10

MSEB 4-EN

4

10

MSEB 4-EN-0°

4

18

MSEB 4-0°

4

18

MSEB 5

5

10

Φ9半圓

SEB KF

SEB 2 KF 5

2

6

Φ8半圓

類型17

30-60

Microdot

 X2

SEB 4 KF 8

4

6

SEB 4 KF 8-EN

4

6

SEB 5 KF 3

5

3

SEB 10 KF 3

10

3

Φ5半圓

類型18

SEB 10 KF 3-EN

10

3

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