參考價(jià)	面議

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

測(cè)定材料	金屬硬度計(jì)	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器類(lèi)型	便攜式

Equotip 550 UCI便攜式硬度計(jì)
靈活的 UCI 硬度檢測(cè)儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細(xì)粒材料。獲得可調(diào)節(jié)檢測(cè)，可負(fù)載和涵蓋廣泛的測(cè)試范圍。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。

詳細(xì)介紹

Equotip 550 UCI便攜式硬度計(jì)

靈活的 UCI 硬度檢測(cè)儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細(xì)粒材料。獲得可調(diào)節(jié)檢測(cè)，可負(fù)載和涵蓋廣泛的測(cè)試范圍。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。

Proceq 的 Equotip 可對(duì)幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進(jìn)行檢測(cè)。使用動(dòng)態(tài)回彈檢測(cè)方法（依照 Leeb）、靜態(tài) Portable Rockwell 硬度檢測(cè)和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進(jìn)行硬度測(cè)量。

京海興樂(lè)科技（北京）有限公司提供探傷儀儀器維修，產(chǎn)品計(jì)量，技術(shù)培訓(xùn)，產(chǎn)品說(shuō)明書(shū),產(chǎn)品配件等。；服務(wù)范圍：船舶及船用產(chǎn)品的超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。(奧林巴斯/汕超/美國(guó)GE/達(dá)高特/中科漢威/友聯(lián)/聲納/)配件：相控陣探頭，直探頭，斜探頭，連接線，探頭線，保護(hù)膜，試塊，耦合劑，雙晶探頭，表面波探頭，小徑管探頭，小角度探頭，水浸探頭，非金屬探頭，可拆式探頭，可變角度探頭，窄脈沖探頭、測(cè)厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(cè)(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產(chǎn)品。

Equotip 便攜式金屬硬度檢測(cè)儀，里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超聲波接觸阻抗（UCI)

Equotip 便攜式硬度檢測(cè)儀

打破固定臺(tái)式硬度檢測(cè)的局限性

Proceq 的 Equotip 可對(duì)幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進(jìn)行檢測(cè)。使用動(dòng)態(tài)回彈檢測(cè)方法（依照 Leeb）、靜態(tài) Portable Rockwell 硬度檢測(cè)和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進(jìn)行硬度測(cè)量。這一瑞士制造的硬度檢測(cè)儀外殼堅(jiān)固，設(shè)計(jì)為在實(shí)驗(yàn)室、工場(chǎng)、生產(chǎn)設(shè)備或現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行便攜式硬度檢測(cè)。這款來(lái)自 Proceq 的全新上市的產(chǎn)品帶來(lái) Equotip Live 最I(lǐng)n 解決方案:使用藍(lán)牙與 iOS 應(yīng)用連接和*的同步技術(shù)。

自 Proceq 在 1975 年發(fā)明了 Leeb 測(cè)量原理以來(lái)，Equotip 已經(jīng)成為便攜式硬度檢測(cè)方面被全球廣泛認(rèn)可的測(cè)量技術(shù)和實(shí)際的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。可選擇不同量程范圍沖擊裝置和測(cè)試塊及配件，涵蓋了絕大部分應(yīng)用。

型號(hào)

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

產(chǎn)品描述	Equotip Live UCI 便攜式硬度測(cè)量計(jì)讓團(tuán)隊(duì)間的合作變得無(wú)比便捷。Equotip iOS app為您即時(shí)記錄和分析測(cè)量數(shù)據(jù)并且隨時(shí)分享給您遠(yuǎn)程的團(tuán)隊(duì)。	隨著無(wú)線EquotipLive Leeb D 型沖擊裝置和直觀的Equotip程序你可以測(cè)量和收集任何硬度數(shù)據(jù)表。通過(guò)自動(dòng)同步功能啟用數(shù)據(jù)的全局傳輸，并且可以通過(guò)電子郵件和其他渠道共享報(bào)告。功能包括一個(gè)安全的網(wǎng)絡(luò)平臺(tái)–集中報(bào)告模板和檔案管理，以及完整的數(shù)據(jù)跟蹤，記錄和連續(xù)的云備份防止數(shù)據(jù)丟失。Equotip Live 所有權(quán)是為最初的設(shè)立捐款和每月的小額費(fèi)用提供的——這保留了商業(yè)資本，同時(shí)允許精確的現(xiàn)金流管理。該軟件包包括免費(fèi)應(yīng)用程序和更新，加上云備份，以及更換成本低。	靈活的 UCI 硬度檢測(cè)儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細(xì)粒材料。獲得可調(diào)節(jié)檢測(cè)，可負(fù)載和涵蓋廣泛的測(cè)試范圍。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。	用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的便攜洛氏硬度檢測(cè)儀。它通過(guò)微米級(jí)的細(xì)小穿透，具有的靈敏度。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。	功能齊全的里氏硬度檢測(cè)儀適用于重型、大型或已安裝部件的現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)。堅(jiān)固的觸摸屏設(shè)計(jì)提供的用戶體驗(yàn)以及最高質(zhì)量的測(cè)量和數(shù)據(jù)分析。增強(qiáng)的軟件功能和分析功能。	結(jié)構(gòu)小巧、外殼堅(jiān)固的高集成一體式里氏硬度檢測(cè)儀。非常適合快速現(xiàn)場(chǎng)硬度檢測(cè)。為狹窄空間和凹面提供可選的 DL 探頭。Equotip Piccolo 2 可將數(shù)據(jù)傳送至電腦。

優(yōu)勢(shì)	無(wú)線 UCI 探頭即時(shí)分享您的測(cè)量和報(bào)告實(shí)現(xiàn)完整數(shù)據(jù)可追溯性的記錄表	無(wú)線沖擊裝置和簡(jiǎn)潔的用戶界面輕松地在世界范圍內(nèi)實(shí)時(shí)共享測(cè)量和報(bào)告全數(shù)據(jù)的可追溯性記錄和媒體添加	與 Leeb 和 Portable Rockwell 相結(jié)合屏幕反饋以減少由操作員引起的測(cè)量誤差內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料	與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合與固定式 Rockwell 硬度檢測(cè)儀同樣可靠、準(zhǔn)確和標(biāo)準(zhǔn)化，但比之更快內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料	可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結(jié)合具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能，隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料	快速現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)的入門(mén)級(jí)型號(hào) 緊湊外殼和自動(dòng)角度糾正便于靈活使用具有所有 Equotip 產(chǎn)品倍受肯定的高精度
默認(rèn)單位	HV (UCI)	HL	HV (UCI)	μm, µinch	HL	HL
可用單位	HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA	HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA	HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA	HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA	HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA（僅 Equotip Piccolo 2）
可用探頭	具有從 HV1 至 HV10 可調(diào)節(jié)測(cè)試負(fù)載的通用探頭	Leeb D	UCI（可調(diào)節(jié) HV1 – HV5）	Portable Rockwell (50N)	Leeb D / DC / DL / S / E / G / C	Leeb D / DL
與其他方法相結(jié)合	否		Leeb，Portable Rockwell	Leeb，UCI	Portable Rockwell，UCI
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)	12.5 / 500	2 / 80	12.5 / 500	2 / 80	7 / 275 (Leeb G)	2 / 80
最小質(zhì)量 (kg/lbs)	0.3 / 0.66	0.05 / 0.2	0.3 / 0.66	無(wú)要求	0.02 / 0.045 (Leeb C)	0.05 / 0.2
最小厚度 (mm/inch)	5 / 0.2	3 / 0.12	5 / 0.2	10 x 壓入深度	1 / 0.04 (Leeb C)	3 / 0.12

應(yīng)用

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

標(biāo)準(zhǔn)到大對(duì)象
圓形對(duì)象	與支撐環(huán)結(jié)合使用	與支撐環(huán)結(jié)合使用	與支撐環(huán)結(jié)合使用
輕薄對(duì)象		帶有沖擊裝置 Leeb C
非常堅(jiān)硬的對(duì)象		帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E
鑄件		帶有沖擊裝置 Leeb G
拋光的對(duì)象		帶有沖擊裝置 Leeb C
不易接觸		帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL	帶有沖擊裝置 Leeb DL
細(xì)小對(duì)象
熱處理表面
其他應(yīng)用	適合物聯(lián)網(wǎng) (IoT) 和工業(yè) 4.0 環(huán)境法蘭, 發(fā)動(dòng)機(jī)組, 軸, 齒輪, 起落架, 紙卷檢測(cè), 線圈, 鋼筋, 管道與熱處理

功能

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

儀器固件	iOS 應(yīng)用包括免費(fèi)更新（以了解兼容性信息）帶預(yù)定義快捷方式的熱點(diǎn) 讀數(shù)的音頻輸出，將手機(jī)置于口袋亦可聽(tīng)到屏幕指南沖擊方向自動(dòng)補(bǔ)償驗(yàn)證和校準(zhǔn)信息以獲得更高的可靠性	iOS應(yīng)用程序，包括免費(fèi)更新。獲取兼容性信息。預(yù)定快捷鍵讀數(shù)的音頻輸出，將手機(jī)置于口袋亦可聽(tīng)到屏幕指南沖擊方向自動(dòng)修正驗(yàn)證和校準(zhǔn)信息以獲得更高的可靠性	剖面視圖一步校準(zhǔn) 沖擊方向自動(dòng)補(bǔ)償個(gè)性化用戶資料和視圖集成至自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制）支持 11 種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)	個(gè)性化用戶資料和視圖集成至自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制）支持 11 種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)	沖擊方向自動(dòng)修正個(gè)性化用戶資料和視圖集成至自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制）支持 11 種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)	沖擊方向自動(dòng)修正集成至自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中（包括遠(yuǎn)程控制）：僅 Equotip Piccolo 2 無(wú)需設(shè)置語(yǔ)言
PC 軟件	基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案	基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案	Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告	Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告	Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告	Piccolink 軟件（僅 Equotip Piccolo 2）
顯示屏	任何 iOS 設(shè)備（交貨時(shí)并未包括）	任何 iOS 設(shè)備（交貨時(shí)并未包括）	7”堅(jiān)固的彩色觸摸屏裝置（800 x 480 像素），雙核處理器	7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素）	7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置（800×480像素）	單色 4 位數(shù)字
內(nèi)存	iOS 設(shè)備的內(nèi)存	iOS 設(shè)備的內(nèi)存	內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值）	內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值）	內(nèi)置 8 GB 閃存（> 1000000 個(gè)測(cè)量值）	32 KB（大約 2000 個(gè)讀數(shù)）（僅限 Equotip Piccolo 2）
連接	用于充電和更新的 USB	用于充電和更新的USB	USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng)	USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng)	USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng)	至 PC 的 USB 接口
測(cè)量范圍	20 – 2000 HV	150 - 950 HL	20 – 2000 HV	0-100 µm；19-70 HRC；35-1‘000 HV	150 – 950 HL	150 - 950 HL
測(cè)量精度	± 2% (150 – 950 HV)	± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%）	± 2% (150 – 950 HV)	± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC	± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%）	± 4 HL（800 HL 時(shí)為 0.5%）

標(biāo)準(zhǔn)化

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

標(biāo)準(zhǔn)	ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 JB/T 9378 GB/T 17394 DIN 50156	ASTM A 1038 ASTM E 140 DIN 50159 ISO 18265 GB/T 34205-2017	DIN 50157	ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378	ASTM A 956 ASTM E 140 ASTM A 370 ISO 16859 DIN 50156 GB/T 17394 JB/T 9378
準(zhǔn)則	DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 ASME CRTD-91	ASME CRTD-91 DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3	ASME CRTD-91 DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3	DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3	ASME CRTD-91 DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3	ASME CRTD-91 DGZfP 準(zhǔn)則 MC 1 VDI / VDE 準(zhǔn)則 2616 文件 1 Nordtest 技術(shù)報(bào)告 424-1, 424-2, 424-3

配件

	Equotip Live UCI	Equotip Live Leeb D	Equotip 550 UCI	Equotip 550 Portable Rockwell	Equotip 550 Leeb	Equotip Piccolo / Bambino 2

測(cè)量配件		Equotip Live Basic Leeb D 沖擊裝置 (358 00 101) 支撐環(huán)組件 (353 03 000) 適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環(huán)組（12 件裝）	Equotip UCI 探頭 HV1-HV5 (356 00 700) Equotip UCI 特殊腳 (356 00 720) 電池組 (327 01 033) 快速充電器（外置）(327 01 053) 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)	Equotip Portable Rockwell 探頭 50N（適用于 Equotip 550 或 PC）(356 00 600) Equotip Portable Rockwell 測(cè)量夾 (354 01 200) Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 18 mm - 70 mm (354 01 250) Equotip Portable Rockwell Spezialfuss RZ 70 mm - ∞ (354 01 253) 電池組 (327 01 033) 快速充電器（外置）(327 01 053) 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & UCI 套件 (356 10 020), Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021)	Equotip Leeb 沖擊裝置 D (356 00 100) Equotip Leeb 沖擊裝置 E (356 00 400) Equotip Leeb 沖擊裝置 G (356 00 300) 適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環(huán)組（12 件裝） (353 03 000) 電池組 (327 01 033) Equotip Leeb 沖擊裝置 S Equotip Leeb 沖擊裝置 DL 快速充電器（外置）(327 01 053) 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022)	Equotip Piccolo 2/Bambino 2 DL 附件包 (352 95 021) 支撐環(huán)組件 (353 03 000) 適用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撐環(huán)組（12 件裝）
驗(yàn)證工具		Equotip 測(cè)試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠校準(zhǔn) (357 13 100)	Equotip UCI 測(cè)試塊 ~850HV，ISO 6507-3 HV5 校準(zhǔn) (357 54 100)	Equotip Portable Rockwell 測(cè)試塊 ~62 HRC，ISO 6508-3 HRC 校準(zhǔn) (357 44 100)	Equotip 測(cè)試塊 E，<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400) Equotip 測(cè)試塊 G，~570 HLG / ~340 HB (357 32 300) Equotip 測(cè)試塊 D/DC，<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100)	Equotip 測(cè)試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠校準(zhǔn) (357 13 100)