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詳細介紹
Equotip Live Leeb D便攜式硬度測量計
- iOS應用程序，包括免費更新。
- 訪問獲取兼容性信息 。
- 預定快捷鍵
- 讀數的音頻輸出，將手機置于口袋亦可聽到
- 屏幕指南
- 沖擊方向自動修正
- 驗證和校準信息以獲得更高的可靠性
Proceq 的 Equotip 可對幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進行檢測。使用動態回彈檢測方法（依照 Leeb）、靜態 Portable Rockwell 硬度檢測和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進行硬度測量。
京海興樂科技（北京）有限公司提供探傷儀儀器維修，產品計量，技術培訓，產品說明書,產品配件等。；服務范圍： 船舶及船用產品的超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產品。(奧林巴斯/汕超/美國GE/達高特/中科漢威/友聯/聲納/)配件：相控陣探頭，直探頭，斜探頭，連接線，探頭線，保護膜，試塊，耦合劑，雙晶探頭，表面波探頭，小徑管探頭，小角度探頭，水浸探頭，非金屬探頭，可拆式探頭，可變角度探頭，窄脈沖探頭、測厚探頭、高溫耦合劑及超聲探傷-UT；磁粉探傷-MT；滲透檢測(PT)、射線探傷-RT、渦流探傷-ET等產品。
Equotip 便攜式金屬硬度檢測儀，里氏 (Leeb)、洛氏 (Rockwell) 和超聲波接觸阻抗（UCI)
打破固定臺式硬度檢測的局限性
Proceq 的 Equotip 可對幾乎任何物體、拋光部件及熱處理表面進行檢測。使用動態回彈檢測方法（依照 Leeb）、靜態 Portable Rockwell 硬度檢測和超聲波接觸阻抗 (UCI) 方法進行硬度測量。這一瑞士制造的硬度檢測儀外殼堅固，設計為在實驗室、工場、生產設備或現場進行便攜式硬度檢測。這款來自 Proceq 的全新上市的產品帶來 Equotip Live 最In 解決方案:使用藍牙與 iOS 應用連接和*的同步技術。
自 Proceq 在 1975 年發明了 Leeb 測量原理以來，Equotip 已經成為便攜式硬度檢測方面被全球廣泛認可的測量技術和實際的行業標準。可選擇不同量程范圍沖擊裝置和測試塊及配件，涵蓋了絕大部分應用。
型號
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 產品描述 | Equotip Live UCI 便攜式硬度測量計讓團隊間的合作變得無比便捷。Equotip iOS app為您即時記錄和分析測量數據并且隨時分享給您遠程的團隊。 | 隨著無線EquotipLive Leeb D 型沖擊裝置和直觀的Equotip程序你可以測量和收集任何硬度數據表。通過自動同步功能啟用數據的全局傳輸，并且可以通過電子郵件和其他渠道共享報告。功能包括一個安全的網絡平臺–集中報告模板和檔案管理，以及完整的數據跟蹤，記錄和連續的云備份防止數據丟失。Equotip Live 所有權是為最初的設立捐款和每月的小額費用提供的——這保留了商業資本，同時允許精確的現金流管理。該軟件包包括免費應用程序和更新，加上云備份，以及更換成本低。 | 靈活的 UCI 硬度檢測儀用于具有任何形狀和熱處理表面的細粒材料。獲得可調節檢測，可負載和涵蓋廣泛的測試范圍。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應用和分析功能。 | 用于刮擦敏感、拋光及細小部件的便攜洛氏硬度檢測儀。它通過微米級的細小穿透，具有的靈敏度。堅固的觸摸屏帶有增強的軟件應用和分析功能。 | 功能齊全的里氏硬度檢測儀適用于重型、大型或已安裝部件的現場檢測。堅固的觸摸屏設計提供的用戶體驗以及最高質量的測量和數據分析。增強的軟件功能和分析功能。 | 結構小巧、外殼堅固的高集成一體式里氏 硬度檢測儀。非常適合快速現場硬度檢測。為狹窄空間和凹面提供可選的 DL 探頭。Equotip Piccolo 2 可將數據傳送至電腦。 |
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| 優勢 |
無線 UCI 探頭
即時分享您的測量和報告
實現完整數據可追溯性的記錄表 |
無線沖擊裝置和簡潔的用戶界面
輕松地在世界范圍內實時共享測量和報告
全數據的可追溯性記錄和媒體添加 |
與 Leeb 和 Portable Rockwell 相結合
屏幕反饋以減少由操作員引起的測量誤差
內置強大的報告功能，隨時準備好可用的數據資料 |
與 Leeb 和 UCI 相結合
與固定式 Rockwell 硬度檢測儀同樣可靠、準確和標準化，但比之更快
內置強大的報告功能，隨時準備好可用的數據資料 |
可使用完整的 Leeb 探頭包，并與 Portable Rockwell 和 UCI 相結合
具有所有 Equotip 產品倍受肯定的高精度
內置強大的報告功能，隨時準備好可用的數據資料 |
快速現場檢測的入門級型號
緊湊外殼和自動角度糾正便于靈活使用
具有所有 Equotip 產品倍受肯定的高精度 |
| 默認單位 | HV (UCI) | HL | HV (UCI) | μm, µinch | HL | HL |
| 可用單位 | HB, HV, HLD, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA | HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA | HB, HV, HRA, HRB, HRC, HR15N, HR15T, MPA | HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA | HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA | HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA（僅 Equotip Piccolo 2） |
| 可用探頭 | 具有從 HV1 至 HV10 可調節測試負載的通用探頭 | Leeb D | UCI（可調節 HV1 – HV5） | Portable Rockwell (50N) | Leeb D / DC / DL / S / E / G / C | Leeb D / DL |
| 與其他方法相結合 | 否 | Leeb，Portable Rockwell | Leeb，UCI | Portable Rockwell，UCI | ||
| 平均粗糙度 Ra (µm / µinch) | 12.5 / 500 | 2 / 80 | 12.5 / 500 | 2 / 80 | 7 / 275 (Leeb G) | 2 / 80 |
| 最小質量 (kg/lbs) | 0.3 / 0.66 | 0.05 / 0.2 | 0.3 / 0.66 | 無要求 | 0.02 / 0.045 (Leeb C) | 0.05 / 0.2 |
| 最小厚度 (mm/inch) | 5 / 0.2 | 3 / 0.12 | 5 / 0.2 | 10 x 壓入深度 | 1 / 0.04 (Leeb C) | 3 / 0.12 |
應用
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 標準到大對象 | ||||||
| 圓形對象 | 與支撐環結合使用 | 與支撐環結合使用 | 與支撐環結合使用 | |||
| 輕薄對象 | 帶有沖擊裝置 Leeb C | |||||
| 非常堅硬的對象 | 帶有沖擊裝置 Leeb S 和 E | |||||
| 鑄件 | 帶有沖擊裝置 Leeb G | |||||
| 拋光的對象 | 帶有沖擊裝置 Leeb C | |||||
| 不易接觸 | 帶有沖擊裝置 Leeb DC 和 DL | 帶有沖擊裝置 Leeb DL | ||||
| 細小對象 | ||||||
| 熱處理表面 | ||||||
| 其他應用 |
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功能
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 儀器固件 |
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| PC 軟件 | 基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案 | 基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案 | Equotip Link 可提供直接報告和自定義報告 | Equotip Link 可提供直接報告和自定義報告 | Equotip Link 可提供直接報告和自定義報告 | Piccolink 軟件（僅 Equotip Piccolo 2） |
| 顯示屏 | 任何 iOS 設備（交貨時并未包括） | 任何 iOS 設備（交貨時并未包括） | 7”堅固的彩色觸摸屏裝置（800 x 480 像素），雙核處理器 | 7“帶雙核處理器的彩色堅固的觸摸屏裝置（800×480像素） | 7“帶雙核處理器的彩色堅固的觸摸屏裝置（800×480像素） | 單色 4 位數字 |
| 內存 | iOS 設備的內存 | iOS 設備的內存 | 內置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值） | 內置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值） | 內置 8 GB 閃存（> 1000000 個測量值） | 32 KB（大約 2000 個讀數）（僅限 Equotip Piccolo 2） |
| 連接 | 用于充電和更新的 USB | 用于充電和更新的USB | USB 主機/設備和以太網 | USB 主機/設備和以太網 | USB 主機/設備和以太網 | 至 PC 的 USB 接口 |
| 測量范圍 | 20 – 2000 HV | 150 - 950 HL | 20 – 2000 HV | 0-100 µm；19-70 HRC；35-1‘000 HV | 150 – 950 HL | 150 - 950 HL |
| 測量精度 | ± 2% (150 – 950 HV) | ± 4 HL（800 HL 時為 0.5%） | ± 2% (150 – 950 HV) | ± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC | ± 4 HL（800 HL 時為 0.5%） | ± 4 HL（800 HL 時為 0.5%） |
標準化
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 標準 |
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配件
Equotip Live UCI | Equotip Live Leeb D | Equotip 550 UCI | Equotip 550 Portable Rockwell | Equotip 550 Leeb | Equotip Piccolo / Bambino 2 |
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| 測量配件 |
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| 驗證工具 | Equotip 測試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠校準 (357 13 100) | Equotip UCI 測試塊 ~850HV，ISO 6507-3 HV5 校準 (357 54 100) | Equotip Portable Rockwell 測試塊 ~62 HRC，ISO 6508-3 HRC 校準 (357 44 100) |
| Equotip 測試塊 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出廠校準 (357 13 100) |
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