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技術(shù)文章

B1S-O美國GE/57755保護膜直探頭

閱讀:570          發(fā)布時間:2020-9-23

B1S-O美國GE/57755保護膜直探頭

歐規(guī)接觸法直探頭

應用

用于檢測簡單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機器零件、殼體

特點

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評判

性能參數(shù)誤差小,適合高精度檢測

可更換保護膜,保護探頭不被磨損

柔性保護膜,即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體,堅固耐用

用于高溫檢測時可加裝高溫延遲塊(定制產(chǎn)品)

歐規(guī)接觸法直探頭

類型

訂購號碼

D

f

N

備注

mm

in

(MHz)

mm

in

B1S

57744

24

0.94

1

23

0.9

 

B1S-EN

500035

24

0.94

1

23

0.9

符合 DIN EN 12668-2

B1S-O

57755

24

0.94

1

23

0.9

頂端接口

B2S

57745

24

0.94

2

45

1.8

 

B2S-EN

500036

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

B2S-O

57756

24

0.94

2

45

1.8

頂端接口

B2S-O-EN

500267

24

0.94

2

45

1.8

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B4S

57746

24

0.94

4

88

3.5

 

B4S-EN

500037

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

B4S-O

57757

24

0.94

4

88

3.5

頂端接口

B4S-O-EN

500268

24

0.94

4

88

3.5

符合 DIN EN 12668-2

頂端接口

B5S

57747

24

0.94

5

110

4.3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

MB2S

57748

10

0.39

2

8

0.3

 

MB2S-EN

500038

10

0.39

2

8

0.3

符合 DIN EN 12668-2

MB2S-O

57975

10

0.39

2

8

0.3

頂端接口

MB4S

57749

10

0.39

4

16

0.6

 

MB4S-EN

500039

10

0.39

4

16

0.6

符合 DIN EN 12668-2

MB4S-O

57976

10

0.39

4

16

0.6

頂端接口

MB5S

57750

10

0.39

5

20

0.8

 

MB5S-O

57977

10

0.39

5

20

0.8

頂端接口

可定制特殊規(guī)格

附件

描述

類型

備注

保護膜

1=10片)

ES45(53756)

ES24(53769)

用于B..S;

用于MS..S

延遲塊或斜塊

特殊訂單

如用于高溫檢測

電纜線

PKLL2(50326)

MPKL2(50486)

用于B..S;

用于MS..S

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