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產品簡介
詳細介紹
X射線熒光光譜儀 EDX1800B包括:EDX1800B用于ROHS六大有害物質含量檢測，Thick800A用于金屬電鍍層厚度測試儀，Explorer5000用于金屬成分分析儀，explorer9000用于土壤重金屬含量檢測，EDX4500用于全元素含量分析。
可在兩分鐘的時間內對電子電器及塑膠等產品的鉛（Pb）、汞（Hg）、鎘（Cd）、鉻（Cr）以及溴（Br）五種元素含量。天瑞儀器秉承“無微不”的精神,采用新技術，特別設計EDX1800B型號的X射線熒光光譜儀。該系列產品在單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低采用行業的數字多道技術。優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，采集有效計數率可達1000Wcps，采用大功率X光管及的準直濾光系統，優勢：激發效率更高，樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度，精密的定位系統 ，超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點，2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試，超小樣品檢測——小可測到0.2毫米。作為一種快捷方便的光譜分析方法，EDX1800B被于重金屬四項和鹵素含量的掃描測試。儀器配有相應標準樣品。
X射線熒光光譜儀 EDX1800B可以滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求， ，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。用于貴金屬加工和飾加工行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。采用高度定位激光，可自動定位測試高度；定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加，良好的射線屏蔽作用。測試口高度敏感性傳感器保護。同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）。開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。雙激光定位裝置。
Explorer5000手持式XRF儀器是天瑞儀器結合10年手持便攜式研發經驗，集中了光電子、微電子、半導體和計算機等多項技術，研制出具有自主知識產權的，一代手持XRF產品。EXPLORER 5000便攜式XRF合金分析儀是先使用大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數字多道數據處理器的便攜式手持合金分析儀。超低的檢出限使手持式分析儀的性能媲美臺式機；儀器體積小，重量輕，可隨身攜帶進行測量，適用于各類型合金樣品的分析。
合金行業應用
貴金屬合金
鋼鐵冶煉
廢舊金屬回收
機械制造與加工
鍋爐壓力容器
航天工業
船舶制造
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應用上也十分廣泛。