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大氣重金屬分析儀產品介紹
EHM-X200是天瑞儀器全球*的雙功能全自動在線分析儀器。它創新地將技術——X射線熒光（XRF）無損檢測技術、β射線吸收檢測技術與空氣顆粒物自動富集技術*結合，不僅可以監測空氣顆粒物質量濃度, 還可以同時對顆粒物中元素成分進行定量分析。該儀器具有pg/m3 量級的檢出限，處于世界水平，廣泛應用于空氣質量監測、污染溯源及源解析、環境評價等領域。
測量原理
儀器以恒定的工況流量將空氣吸入顆粒物切割器中，以PM2.5為例，動力學直徑在2.5um附近及以下的顆粒污染物進入到儀器的富集系統中。經過一段時間的富集后，富集系統自動切換成β射線分析系統，利用β射線的衰減與顆粒物的質量濃度成指數的關系，對顆粒物的質量濃度進行分析。然后卷膜系統地將富集有空氣顆粒物的濾紙移動到X射線熒光分析系統，分別利用X射線熒光的能量和強度對顆粒物中的元素成分進行定性和定量的分析。
X射線熒光光譜技術（XRF）的原理見圖3所示，可以直接檢測固體或液體樣品中ppm量級的元素成分。采用富集后再檢測的辦法，使得XRF技術對空氣顆粒物中的重金屬成分的檢測限優于0.001ug/m3。而常規實驗室的檢測技術，由于預處理消解過程中需要將微克量級的樣品溶解到幾十克的液體中，而使得濃度被稀釋百萬倍，從而多數儀器（譬如ICP-AES、或原子吸收光譜儀）無法檢出元素含量低于10ug/m3量級的空氣顆粒物樣品。
性能特點
（1）空氣顆粒物濃度、大氣重金屬濃度一體式協同測量，為污染溯源及源解析提供更數據；
（2）TSP、PM10、PM2.5三種切割器可供用戶選擇，應用于不同的環境評價場合；
（3）鉛、鎘、砷等30多種重金屬含量測量，檢出限在pg/m3量級；
（4）從光管、探測器、數字多道分析器（DCMA）到整機，數十項XRF核心技術發明；
（5）具有技術和測試報告，儀器的可靠性、性得到充分驗證。
大氣重金屬分析儀技術參數
以下列出了的一些重要技術參數（表1）。
表1 天瑞儀器 EHM-X200技術參數
名稱 | 性能參數及要求 |
檢測技術 | (1)重金屬的測量方法基于美國EPA方法IO-3.3的非破環性X射線熒光(XRF)原理； |
測試內容 | （1）可監測TSP/PM10/PM2.5空氣顆粒物（PM）質量總濃度； |
測量結果 | 用戶可以自由選擇如下三種測量結果： |
檢測范圍 | 重金屬，0～100μg/m3； |
檢出限 | pg/m3量級 (采樣時間4小時、流速16.7L/min)； |
重現性 | 重金屬，RSD < 1% （Pb的標準樣片）； |
采樣分析時間 | 30～1440分鐘連續采樣，可自定義。采樣流量(0～20)L/min 可調節，DHS 動態加熱。采樣與分析同時進行，無采樣間隔。 |
采樣濾膜 | 采樣濾膜為PTFE濾紙材質，對0.3μm顆粒物的截留效率≥99.7% ，不含重金屬元素成分； |
安全防護 | 輻射劑量符合《X射線衍射儀和熒光分析儀衛生防護標準》規定，具有相關部門X射線表面輻射劑量檢測報告,距離機箱5cm處，輻射劑量小于2.5μGy/h； |
質控要求 | （1）儀器具備流量自動校準功能； |
分析軟件 | （1）提供設備配套數據分析管理軟件，開放通訊協議，可接入已有數采平臺；中文操作界面，觸摸屏操作，顯示實時采樣流量，采樣時間，測量狀態，重金屬濃度值、含量曲線等信息。 |