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xrf光譜分析儀

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  • xrf光譜分析儀
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  • 型號 EDX3600K
  • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2023-11-12 15:14:45瀏覽次數:837

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產品簡介

xrf光譜分析儀屬于的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎,結合國外相關新的技術發展成果,研制出具有自主知識產權的E

詳細介紹

產品介紹

 

xrf光譜分析儀屬于的分析檢測儀器,隨著半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室內人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術為基礎,結合國外相關新的技術發展成果,研制出具有自主知識產權的EDX 3600K型xrf光譜分析儀

 

3600k-b.jpg

 

EDX 3600K 的亮點在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,產品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術達到水平。

 

性能優勢

 

1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳

使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器,探測器分辨率達到139eV,各項指標優于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線

性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

 

2. 測試精度更高,檢出限更低

①化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。

②采用超小超真空的樣品腔設計,測試時達到10Pa以下,使設備的測試范圍可從F元素起測試,大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

 

3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果

采用自主研發的數字多道技術,其線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,

設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。

 

4. 一鍵式智能化操作

軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

 

5. 強大的自動化功能

①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。

②采用自動穩譜裝置,了儀器工作的*性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

 

6. 強度校正法

具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

 

7. 完善的光路系統

自主研發的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。

 

8. 三重安全防護功能

三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線泄漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

 

9. 安全警示系統

警告指示系統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

 

技術參數

 

型號:EDX3600K

X射線源:50KV、1mA

樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm

分析方法:能量色散XRF分析方法

測量元素范圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量

檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素

含量范圍:ppm~99.99%

檢測時間:10秒以上

檢測對象:標準粉未壓片及可以放入標準樣品杯的固體、液體及粉末

探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器125eV

激發源:銠靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇

攝像頭:高清攝像頭

測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以

準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換

自旋裝置:可調速的自旋裝置

檢出限:對樣品中的大多數元素來說,檢出限達5~500ppm

真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa

數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率

測試臺:360°電動旋轉式

保護系統:樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成

樣品放置:*的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動

數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高500kcps

外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG

操作環境濕度:≤90%

操作環境溫度:15℃~30℃

 

儀器配置

 

鈹窗電制冷SDD探測器

自旋式樣品腔

高效超薄窗X光管

超近光路增強系統

可自動開啟的測試蓋

自動切換型準直器和濾光片

真空腔體

自動穩譜裝置

90mm×70mm的液晶屏

的數字多道技術

多變量非線性回歸程序

相互獨立的基體效應校正模型

 

 

軟件優勢

 

采用公司新的能譜EDXRF軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。

具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加,內置強度校正方法,可校正幾何狀態不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

的軟件界面和內核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。

 

應用領域

 

專為粉未冶煉行業研發的一款設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。

同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用

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