國(guó)產(chǎn)金屬電鍍層檢測(cè)儀THICK800A 測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)
1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法
2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
 
  國(guó)產(chǎn)金屬電鍍層檢測(cè)儀THICK800A應(yīng)用行業(yè)
1、 電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量
2、 印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量
3、 貴金屬飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量
4、 五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量
 
儀器軟件優(yōu)勢(shì):                                     
儀器采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式，測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。
軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無(wú)限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

Thick800A具如下特點(diǎn)：
1.微小焦斑X射線測(cè)量系統(tǒng)
2.高精度移動(dòng)平臺(tái)及定位裝置
3.大面積高分辨率探測(cè)器 
4.采用FPTHICK軟件實(shí)現(xiàn)計(jì)算，實(shí)現(xiàn)對(duì)單鍍層，雙鍍層，三鍍層和合金鍍層的測(cè)試
5.防碰撞保護(hù)裝置有效保護(hù)測(cè)試機(jī)構(gòu)和樣品
 
性能優(yōu)勢(shì)
1.可靠性高：由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。
2.滿足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測(cè)試需要。
3.快速：40S就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。
4.無(wú)損：測(cè)試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。
5.直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示產(chǎn)品測(cè)試點(diǎn)
6.簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。
7.性價(jià)比高：相比其他類類儀器，x熒光鍍層測(cè)厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

測(cè)試實(shí)例
鍍鎳器件是比較常見(jiàn)的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說(shuō)明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。

                                                         銅鍍鎳件X射線熒光測(cè)試譜圖
 
樣 品 名成分Ni(%)鍍層Ni(um)
吊扣10019.321
吊扣2#10019.665
吊扣3#10018.846
吊扣4#10019.302
吊扣5#10018.971
吊扣6#10019.031
吊扣7#10019.146
平均值10019.18314
標(biāo)準(zhǔn)偏差00.273409
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差01.425257

銅鍍鎳件測(cè)試值
結(jié)論
實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。