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X光電鍍層測厚儀,天瑞儀器

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  • X光電鍍層測厚儀,天瑞儀器
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具體成交價以合同協議為準
  • 型號
  • 品牌 SKYRAY/天瑞儀器
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 蘇州市
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更新時間:2023-11-08 19:14:46瀏覽次數:738

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產品簡介

X光電鍍層測厚儀,天瑞儀器 是一款快速、無損、檢測鍍層厚度新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定; 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測,可以檢測如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等,多一次分析五層。

詳細介紹

 X光電鍍層測厚儀,天瑞儀器 性能優勢
精密的三維移動平臺
的樣品觀測系統
的圖像識別 
輕松實現深槽樣品的檢測
四種微孔聚焦準直器,自動切換
雙重保護措施,實現無縫防撞
采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
全自動智能控制方式,一鍵式操作!
開機自動退出自檢、復位 
開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
直接全景或局部景圖像選取測試點 
軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果 


 X光電鍍層測厚儀,天瑞儀器技術指標
分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
分析含量:一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
穩定性:可達0.1%
SDD探測器:分辨率低135eV
采用的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
Ф0.3mm四種準直器組合
儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度 15℃~30℃
應用領域
X光電鍍層測厚儀主要是線路板、五金電鍍、飾、端子等行業的應用,廣泛應用于電子電器廠、精密五金公司、電鍍加工企業、制冷企業等。

 

 

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