產品簡介
詳細介紹
上海X射線鍍層測厚儀Thick800A 是一款快速、無損、檢測鍍層厚度新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定; 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測,可以檢測如鍍金、鍍鎳、鍍銅、鍍鉻、鎳鋅、鍍銀、鍍鈀等,多一次分析五層。 分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層 檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm 分析含量:一般為2ppm到99.9% 鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1% 穩定性:可達0.1% SDD探測器:分辨率低135eV 采用的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm 樣品觀察:
上海X射線鍍層測厚儀Thick800A 配備全景和局部兩個工業高清攝像頭 準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合 儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm 樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm 樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um 操作環境濕度:≤90% 操作環境溫度 15℃~30℃。