上照式X熒光無損測(cè)厚儀鍍層厚度測(cè)試方法一般有以下幾種方法：1.光學(xué)顯微鏡法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T6462-20052.X-ray法（X射線法）。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T16921-20053.庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標(biāo)準(zhǔn)為：GB/T4955-2005測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)1.國標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法2.美國標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence應(yīng)用行業(yè)1.電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點(diǎn)的厚度測(cè)量2.印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測(cè)量3.貴金屬飾手表行業(yè)鍍層厚度測(cè)量4.五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測(cè)量
儀器分析原理儀器采用XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。

 上照式X熒光無損測(cè)厚儀儀器配置                                            1    硬件：主機(jī)壹臺(tái)，含下列主要部件： ①X光管                    ②半導(dǎo)體探測(cè)器③放大電路                  ④高精度樣品移動(dòng)平臺(tái)⑤高清晰攝像頭             ⑥高壓系統(tǒng)⑦上照、開放式樣品腔        ⑧雙激光定位⑨玻璃屏蔽罩2   軟件：天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.03   計(jì)算機(jī)、打印機(jī)各一臺(tái)計(jì)算機(jī)（品牌，P4，液晶顯示屏）、打印機(jī)（佳能，彩色噴墨打印機(jī)）4   資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗(yàn)合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。5   標(biāo)準(zhǔn)附件準(zhǔn)直孔：0.1X1.0mm（已內(nèi)置于儀器中） 儀器軟件優(yōu)勢(shì):                                     儀器采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件，的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式，測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加，內(nèi)置強(qiáng)度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。 儀器參數(shù)規(guī)格1   分析元素范圍：S-U2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm5   定位精度：0.1mm6   測(cè)量時(shí)間：30s-300s7   計(jì)數(shù)率：1300-8000cps8   Z軸升降范圍：0-140mm9   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程：50mm(W)×50mm(D) 性能特點(diǎn)1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，可以對(duì)同一鍍件不同部位測(cè)試厚度3.高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度5.定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)的位置就是被測(cè)點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加8.良好的射線屏蔽作用9.測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù) 樣品測(cè)試流程： 測(cè)試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度，七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。且可在樣品上進(jìn)行定位測(cè)試，其測(cè)試位置如圖。 結(jié)論實(shí)驗(yàn)表明，使用Thick800A 儀器對(duì)鍍件膜厚測(cè)試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。 質(zhì)量1. 乙方對(duì)所出售本合同所規(guī)定的儀器進(jìn)行終身維修；2. 軟件免費(fèi)升級(jí)：如有軟件升級(jí)，乙方將免費(fèi)提供軟件升級(jí)，不再收取升級(jí)費(fèi)用；3. 保修條款3.1. 儀器設(shè)備自驗(yàn)收合格之日起免費(fèi)保修1年；3.2. 免費(fèi)保修期內(nèi)，維修相關(guān)費(fèi)用全免；3.3. 保修期結(jié)束后，乙方為甲方提供維修服務(wù)的資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)如下：交通費(fèi)、住宿費(fèi)由甲方承擔(dān)；資費(fèi)標(biāo)準(zhǔn)：硬件成本費(fèi)用——按乙方時(shí)價(jià)計(jì)算硬件運(yùn)輸費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷服務(wù)費(fèi)——300元 / 人 / 天人員交通費(fèi)——實(shí)報(bào)實(shí)銷人員住宿費(fèi)用——￥200元/天4. 技術(shù)服務(wù)的響應(yīng)期限：提供有效的技術(shù)服務(wù)，在接到用戶故障信息后，4小時(shí)內(nèi)響應(yīng)；如有必要，12～72個(gè)小時(shí)內(nèi)派人上門維修和排除故障。  質(zhì)量措施 1.管理能力: 本司通過了ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證，公司各方面的管理都非常規(guī)范。2